[发明专利]用于使用异质结构化阴极来减小晶闸管存储器单元之间的电气干扰效应的方法和系统在审
申请号: | 201710067914.3 | 申请日: | 2017-02-07 |
公开(公告)号: | CN107046034A | 公开(公告)日: | 2017-08-15 |
发明(设计)人: | H·卢安;V·阿克赛尔拉德 | 申请(专利权)人: | 克劳帕斯科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/102 | 分类号: | H01L27/102;H01L29/417;H01L21/28;H01L21/8229;G11C11/39 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司72002 | 代理人: | 林金朝,王英 |
地址: | 美国加*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供了用于减小在存储器阵列中的晶闸管存储器单元之间的电气干扰效应的方法和系统。通过使用具有减小的少数载流子寿命的材料作为嵌在阵列内的阴极线来减小单元之间的电气干扰效应。还通过形成阴极线内的势阱或阴极线中的单侧势垒来减小干扰效应。 | ||
搜索关键词: | 用于 使用 结构 阴极 减小 晶闸管 存储器 单元 之间 电气 干扰 效应 方法 系统 | ||
【主权项】:
多个易失性存储器单元,包括:第一晶闸管,其由具有第一带隙和第一电子亲和势的第一半导体材料形成,所述第一晶闸管包括第一阴极;第二晶闸管,其由所述第一半导体材料形成,所述第二晶闸管包括第二阴极;第一阴极线,其由第二半导体材料形成,所述第二半导体材料具有比所述第一带隙窄的第二带隙和与所述第一电子亲和势实质上相同的第二电子亲和势,所述第一阴极线连接所述第一晶闸管的所述第一阴极和所述第二晶闸管的所述第二阴极;第二阴极线,其中,所述第一阴极线形成在所述第二阴极线的顶部上;以及第一隔离绝缘体区,其将所述第一晶闸管的第一部分与所述第二晶闸管的第二部分分开。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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