[发明专利]光学测量装置有效
| 申请号： | 201710034921.3 | 申请日： | 2017-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN107228635B | 公开（公告）日： | 2019-11-08 |
| 发明（设计）人： | 森野久康;的场贤一;菅孝博 | 申请（专利权）人： | 欧姆龙株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 崔炳哲 |
| 地址： | 日本京都*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的一个方面的光学测量装置(1)包括：光源(10)，其产生具有多个波长成分的照射光；传感器头部(30)，其使从光源(10)发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象(2)反射的反射光；光接收部(40)，其将由传感器头部(30)接收的反射光分离成各波长成分，并接收各波长成分的光；导光部(20)，其将光源(10)、光接收部(40)以及传感器头部(30)光学性地连接；以及处理部(50)，其基于光接收部(40)中的各波长成分的受光量，计算从光学系统到测量对象的距离。处理部(50)将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与受光量的基准值比较，当多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种光学测量装置，其特征在于，包括：光源，其产生具有多个波长成分的照射光，光学系统，其使从所述光源发出的照射光产生轴向色差，并接收从至少一部分配置在光轴的延长线上的测量对象反射的反射光，光接收部，其将由所述光学系统接收的反射光分离成各波长成分，并接收所述各波长成分的光，以及处理部，其基于所述光接收部中的所述各波长成分的受光量，计算从所述光学系统到所述测量对象的距离；所述处理部将光接收波形中的多个波长成分的各受光量与所述受光量的基准值比较，当所述多个波长成分中的每个波长成分的所述受光量相对于所述基准值的变化量均为预设的阈值以上时，检测出所述光接收波形的异常。
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