[发明专利]一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统有效
申请号: | 201710018485.0 | 申请日: | 2017-01-11 |
公开(公告)号: | CN106814479B | 公开(公告)日: | 2019-07-16 |
发明(设计)人: | 施文峰 | 申请(专利权)人: | 昆山国显光电有限公司 |
主分类号: | G02F1/13 | 分类号: | G02F1/13;G01B11/00;G01B21/00 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 张建纲 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法,首先获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标,然后将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比,将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比,均满足条件时,即第一对比结果小于预设的第一阈值,第二对比结果小于预设的第二阈值时,计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值,根据该坐标偏差值进行补偿,其中第一阈值和第二阈值分别根据允许误差来合理设置,该方案可及时修正上游设备及修补设备坐标偏差,避免了人工查找带来的缺陷,提高了面板缺陷位置定位的准确性,提高了补偿的及时性,从而提高了面板修补的产能。 | ||
搜索关键词: | 一种 面板 缺陷 位置 偏移 补偿 方法 装置 系统 | ||
【主权项】:
1.一种面板缺陷位置的偏移补偿方法,其特征在于,包括如下步骤:获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标;将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果,判断第一对比结果是否满足第一条件;第一条件为第一对比结果是否小于预设的第一阈值,第一阈值是预先设定的一个数值,第一阈值根据第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标的合理误差范围来确定,第一阈值根据总间距测量设备的允许误差范围和自动光学检测设备的允许误差范围确定;将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果,判断第二对比结果是否满足第二条件;第二条件为第二对比结果是否小于预设的第二阈值,第二阈值是预先设定的一个数值,根据第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的合理误差范围来确定,第二阈值根据总间距测量设备的允许误差范围和修补设备的允许误差范围确定;当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时,计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值;根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。
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