[发明专利]一种面板缺陷位置的偏移补偿方法、装置及系统

说明书

本发明提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，首先获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标，然后将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比，将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比，均满足条件时，即第一对比结果小于预设的第一阈值，第二对比结果小于预设的第二阈值时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值，根据该坐标偏差值进行补偿，其中第一阈值和第二阈值分别根据允许误差来合理设置，该方案可及时修正上游设备及修补设备坐标偏差，避免了人工查找带来的缺陷，提高了面板缺陷位置定位的准确性，提高了补偿的及时性，从而提高了面板修补的产能。

技术领域

本发明涉及面板检测领域，具体涉及一种面板缺陷位置的偏移补偿方法及装置。

背景技术

近年来，显示技术快速发展，对显示面板的要求也越来越高。然而，现有的显示面板的制造技术，无法完全避免显示缺陷的发生，因此在面板的生成过程中，对面板缺陷的检测至关重要。对于存在缺陷的面板，为了避免浪费、节约资源，不是将存在缺陷的面板全部淘汰，而是采用修补设备对存在缺陷的面板产品进行修补，从而有效挽救产品的良率。

修补设备的修补成功率及修补效率是面板生产过程中的关键因素，在实际使用修补设备的过程中，上游设备传过来的缺陷坐标信息与修补设备坐标系存在一定偏差，作业人员需要人工检查后才能找到需要实施修补的缺陷位置，然后再进行修补，这种方式不仅需要花费较多的时间，人工检查也容易导致定位不准确的缺陷，因此使得修补设备的产能低下。

发明内容

因此，本发明要解决的技术问题在于现有技术的面板修补过程中上游设备和修补设备的坐标存在误差。

为此，本发明提供一种面板缺陷位置的偏移补偿方法，包括如下步骤：获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

优选地，当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。

优选地，当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。

优选地，根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿的步骤，包括：将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。

优选地，所述总间距测量设备为TP设备。

此外，本发明还提供一种面板缺陷位置的偏移补偿装置，包括：坐标获取单元，用于获取总间距测量设备、自动光学检测设备、修补设备分别识别到的第一缺陷坐标、第二缺陷坐标、第三缺陷坐标；第一比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第二缺陷坐标进行对比得到第一对比结果，判断第一对比结果是否满足第一条件；第二比较单元，用于将所述第一缺陷坐标与所述第三缺陷坐标进行对比得到第二对比结果，判断第二对比结果是否满足第二条件；缺陷坐标计算单元，用于当第一对比结果满足第一条件且第二对比结果满足第二条件时，计算所述第二缺陷坐标与所述第三缺陷坐标的坐标偏差值；补偿单元，用于根据所述坐标偏差值进行面板缺陷位置的补偿。

优选地，还包括第一故障排查单元，用于当所述第一对比结果不满足第一条件时，则对自动光学检测设备进行故障排查。

优选地，还包括第二故障排查单元，用于当所述第二对比结果不满足第二条件时，则对修补设备进行故障排查。

优选地，所述补偿单元包括补偿子单元，用于将所述坐标偏差值写入到所述自动光学检测设备的DFS文件中。