[发明专利]光学特性测量装置有效
申请号: | 201680071975.0 | 申请日: | 2016-12-05 |
公开(公告)号: | CN108369155B | 公开(公告)日: | 2020-04-03 |
发明(设计)人: | 关口瑛士;清水晋二;高桥诚 | 申请(专利权)人: | 柯尼卡美能达株式会社 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00;G01J1/00;G01J3/50;G02F1/13 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 车玲玲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 一种光学特性测量装置,是能够同时测量闪烁和与闪烁不同的光学特性的装置,包括:第一受光传感器,用于测量闪烁;第一后级电路,输入从第一受光传感器输出的信号;第二受光传感器,用于测量光学特性;以及第二后级电路,输入从第二受光传感器输出的信号。 | ||
搜索关键词: | 光学 特性 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光学特性测量装置,是能够同时测量闪烁和与所述闪烁不同的光学特性的光学特性测量装置,包括:第一受光传感器,用于测量所述闪烁;第一后级电路,输入从所述第一受光传感器输出的信号;第二受光传感器,用于测量所述光学特性;以及第二后级电路,输入从所述第二受光传感器输出的信号。
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