[实用新型]一种低导通压降的晶闸管芯片有效
申请号: | 201621257549.X | 申请日: | 2016-11-22 |
公开(公告)号: | CN206194744U | 公开(公告)日: | 2017-05-24 |
发明(设计)人: | 王民安;郑春鸣;黄永辉;王志亮;汪杏娟;王日新 | 申请(专利权)人: | 安徽省祁门县黄山电器有限责任公司 |
主分类号: | H01L29/74 | 分类号: | H01L29/74;H01L29/06 |
代理公司: | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙)44240 | 代理人: | 叶绿林,杨大庆 |
地址: | 245000 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种低导通压降的晶闸管芯片,包括N型长基区,P型短基区,P型阳极区,N+阴极发射区及设置在N+阴极发射区四周的沟槽;所述位于N+阴极发射区下方的P型短基区的厚度为位于沟槽位置处P型短基区厚度的45%~65%。所述N+阴极发射区到沟槽的最小距离为250~400um。本实用新型通过减少N+阴极发射区下方P型短基区的厚度,从而降低晶闸管芯片的导通压降,且能够保证耐压值不变,可广泛应用于晶闸管芯片领域。 | ||
搜索关键词: | 一种 低导通压降 晶闸管 芯片 | ||
【主权项】:
一种低导通压降的晶闸管芯片,包括N型长基区(1),P型短基区(2),P型阳极区(3),N+阴极发射区(4)及设置在N+阴极发射区(4)四周的沟槽(5);其特征在于:所述位于N+阴极发射区(4)下方的P型短基区(2)的厚度为位于沟槽(5)位置处P型短基区(2)厚度的45%~65%。
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