[发明专利]一种具有超低逸出功的阳极及其制备方法在审
申请号: | 201611101467.0 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106486556A | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 常帅;袁弘渊;黄明柱 | 申请(专利权)人: | 武汉科技大学 |
主分类号: | H01L31/0224 | 分类号: | H01L31/0224;H01L31/18;H01L21/28 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 430081 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明涉及超低逸出功材料技术领域,具体涉及一种具有超低逸出功的阳极及其制备方法,其特征在于具有超低逸出功的阳极包括单晶硅层、HfO2层、单层石墨烯层、附加层;所述单晶硅层的上表面附有一层HfO2层,HfO2层上表面附有长宽5×5mm的单层石墨烯层,单层石墨烯层的上表面镀有一层附加层;所述单晶硅层为高参杂的单晶硅层;所述HfO2层的厚度为20nm;所述单层石墨烯层内参杂有静电;所述附加层为铯元素层或氧元素层,附加层的厚度为一个原子层厚度。本发明制备得到的阳极,其逸出功降低到了3eV以下,大大提高了阳极能量转化的效率。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 逸出功 阳极 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种具有超低逸出功的阳极,其特征在于它包括单晶硅层、HfO2层、单层石墨烯层、附加层;所述单晶硅层的上表面附有一层HfO2层,HfO2层上表面附有长宽5×5mm的单层石墨烯层,单层石墨烯层的上表面镀有一层附加层;所述单晶硅层为高参杂的单晶硅层;所述HfO2层的厚度为20nm;所述单层石墨烯层内参杂有静电;所述附加层为铯元素层或氧元素层,附加层的厚度为一个原子层厚度。
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H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
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