[发明专利]一种具有超低逸出功的阳极及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201611101467.0 申请日: 2016-11-28
公开(公告)号: CN106486556A 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 常帅;袁弘渊;黄明柱 申请(专利权)人: 武汉科技大学
主分类号: H01L31/0224 分类号: H01L31/0224;H01L31/18;H01L21/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 430081 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明涉及超低逸出功材料技术领域,具体涉及一种具有超低逸出功的阳极及其制备方法,其特征在于具有超低逸出功的阳极包括单晶硅层、HfO2层、单层石墨烯层、附加层;所述单晶硅层的上表面附有一层HfO2层,HfO2层上表面附有长宽5×5mm的单层石墨烯层,单层石墨烯层的上表面镀有一层附加层;所述单晶硅层为高参杂的单晶硅层;所述HfO2层的厚度为20nm;所述单层石墨烯层内参杂有静电;所述附加层为铯元素层或氧元素层,附加层的厚度为一个原子层厚度。本发明制备得到的阳极,其逸出功降低到了3eV以下,大大提高了阳极能量转化的效率。
搜索关键词: 一种 具有 逸出功 阳极 及其 制备 方法
【主权项】:
一种具有超低逸出功的阳极,其特征在于它包括单晶硅层、HfO2层、单层石墨烯层、附加层;所述单晶硅层的上表面附有一层HfO2层,HfO2层上表面附有长宽5×5mm的单层石墨烯层,单层石墨烯层的上表面镀有一层附加层;所述单晶硅层为高参杂的单晶硅层;所述HfO2层的厚度为20nm;所述单层石墨烯层内参杂有静电;所述附加层为铯元素层或氧元素层,附加层的厚度为一个原子层厚度。
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