[发明专利]扬声器箱缺陷检测方法在审
申请号: | 201611069134.4 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN108124231A | 公开(公告)日: | 2018-06-05 |
发明(设计)人: | 白帧薰 | 申请(专利权)人: | 西格玛艾尔科技股份有限公司 |
主分类号: | H04R29/00 | 分类号: | H04R29/00 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司 11279 | 代理人: | 王正茂;丛芳 |
地址: | 韩国釜*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明公开了一种扬声器箱缺陷检测方法,针对扬声器箱结合处的裂隙泄漏的音压所导致的音质下降进行测量而准确判别扬声器箱是否存在缺陷,其包括:步骤A,以指定为合格品的扬声器箱处测量的第一阻抗(impedance)为基础,设定出用来判别合格品与否的一定范围的第一上限与第一下限;步骤B,把步骤A测量出来的第一阻抗的一定频率点设定为基准点;步骤C,针对作为检查对象的扬声器箱的第二阻抗进行测量,测量基准点的第一阻抗与第二阻抗之大小差异;步骤D,按照第一阻抗与第二阻抗的大小差异移动第一上限与第一下限后设定第二上限与第二下限;以及步骤E,判断第二阻抗是否脱离了第二上限及第二下限中至少一个范围并且进而判别缺陷与否。 | ||
搜索关键词: | 阻抗 扬声器箱 测量 合格品 大小差异 缺陷检测 测量基准 检查对象 裂隙 基准点 结合处 频率点 音质 音压 泄漏 脱离 移动 | ||
【主权项】:
一种扬声器箱缺陷检测方法,其用于判别扬声器箱结合处的裂隙泄漏的音压所导致的音质下降,其特征在于,包括下列步骤:步骤A,以指定为合格品的扬声器箱处测量的第一阻抗为基础,设定出用来判别合格品与否的一定范围的第一上限与第一下限;步骤B,把所述步骤A测量出来的第一阻抗的一定频率点设定为基准点;步骤C,针对作为检查对象的扬声器箱的第二阻抗进行测量,测量所述基准点的第一阻抗与第二阻抗的大小差异;步骤D,按照所述第一阻抗与所述第二阻抗的大小差异移动所述第一上限与所述第一下限后设定第二上限与第二下限;及步骤E,判断所述第二阻抗是否脱离了所述第二上限及所述第二下限中至少一个范围并且进而判别缺陷与否。
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