[发明专利]一种快恢复功率二极管及其制造方法在审
申请号: | 201611033040.1 | 申请日: | 2016-11-18 |
公开(公告)号: | CN106571402A | 公开(公告)日: | 2017-04-19 |
发明(设计)人: | 李洪军;邵枫 | 申请(专利权)人: | 吉林瑞能半导体有限公司 |
主分类号: | H01L29/868 | 分类号: | H01L29/868;H01L29/06;H01L21/329 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司11258 | 代理人: | 彭琼 |
地址: | 132013 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种快恢复功率二极管及其制造方法。该快恢复功率二极管的制造方法包括注入工艺、扩散工艺、硅片减薄工艺、沟槽腐蚀工艺、电泳及烧结工艺。本发明通过上述的制造方法,可以实现高效率且低成本的快恢复功率二极管。 | ||
搜索关键词: | 一种 恢复 功率 二极管 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种快恢复功率二极管的制造方法,包括:注入工艺,向硅片衬底注入掺杂源;扩散工艺,通过扩散,在硅片衬底上形成PN结和氧化层;硅片减薄工艺,将硅片减薄到预定的厚度;沟槽腐蚀工艺,在硅片表面腐蚀出一定深度的沟槽,所述沟槽的厚度超过所述PN结的厚度;以及电泳及烧结工艺,在所述沟槽内形成钝化层,其中,在所述注入工艺之后所述沟槽腐蚀工艺之前实施所述硅片减薄工艺。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于吉林瑞能半导体有限公司,未经吉林瑞能半导体有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201611033040.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:酮脂酰ACP合酶基因及其用途
- 下一篇:新的抗人类Igβ抗体
- 同类专利
- 专利分类