[发明专利]一种基于相位信息的连接器缺陷检测方法有效
申请号: | 201610961476.0 | 申请日: | 2016-11-04 |
公开(公告)号: | CN106556612B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 周仲兴;徐加明;李水能;陈亮 | 申请(专利权)人: | 立讯精密工业(昆山)有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215324 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于相位信息的连接器缺陷检测方法,采用了一种新的X射线成像模态,并充分考虑了实际成像系统的恶化效应,满足当初工程技术条件的可行性和先进性,本发明可以进一步应用于其他工业零件中微小缺陷的在线检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 相位 信息 连接器 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于相位信息的连接器缺陷检测方法,其包括如下步骤:(1).X射线同轴相衬成像参数设置:设置光源到物体的距离为200cm,与此对应的物体到探测器的距离为100cm;(2).设置数字放射成像系统的曝光参数,放置刀口器具在物体平面位置,连续采集15幅图像,从每幅图像获取不同位置的刀口截面曲线50条,而后将15*50条刀口截面曲线进行平均,再对平均曲线求导数,获得对应的系统传递函数曲线;(3).放置待成像物体,在成像参数设置下对物体成像,获得成像结果IN(x,y),其中,x,y表示空间位置坐标;(4).根据物体相衬成像结果IN(x,y),以及系统传递函数H(u,v),同时根据实际图像的信噪比,利用
对恶化图像结果进行维纳滤波,得到理想成像的估计
其中,u表示x轴方向的空间频率,v表示y轴方向的空间频率,C表示常量;(5).根据实际物体的组成成份,估计松弛因子α,而后计算相位抽取滤波函数
其中,d表示物体到探测器的距离,λ表示X射线波长;(6).根据相位抽取公式
计算得到物体的相位信息图像,其中,
表示傅立叶正变换,
表示傅立叶逆变换,g(I)表示归一化光强信号函数:
Id(x,y)为探测器接受的光强信号,I0(x,y)为经过物体前的X射线能量信号,λ为X射线波长。
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