[发明专利]用于测量机器运转状况的系统和方法有效

专利信息
申请号: 201610865645.0 申请日: 2016-09-29
公开(公告)号: CN107054244B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: B.D.沃尔登;M.S.巴拉苏拉马尼安;A.K.库马尔;张京军;J.L.科因;S.C.雅加德沙 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: B60R16/023 分类号: B60R16/023;G01D21/02;G01M17/007
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 金飞;肖日松
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开一种用于测量机器运转状况的系统和方法。所述系统包括传感器、一个或多个处理器、发送器以及电容控制结构。所述传感器被配置成接触流体并且测量所述流体的特性;所述一个或多个处理器操作地连接到所述传感器,并且所述一个或多个处理器配置成产生代表由所述传感器测量的所述流体的特性的一个或多个数据信号。所述发送器操作地连接到所述一个或多个处理器。所述发送器配置成无线发送所述一个或多个数据信号至远程读取器。所述电容控制结构配置成减小所述传感器的传感器电容和/或从一个或多个处理器隔离所述传感器的传感器电容。
搜索关键词: 用于 测量 机器 运转 状况 系统 方法
【主权项】:
一种用于测量机器运转状况的系统,所述系统包括:被配置成接触流体并且测量所述流体的特性的传感器;一个或多个处理器,其操作地连接到所述传感器,并且所述一个或多个处理器配置成产生代表由所述传感器测量的所述流体的特性的一个或多个数据信号;以及操作地连接到所述一个或多个处理器的发送器,所述发送器配置成无线发送所述一个或多个数据信号至远程读取器;以及电容控制结构,其配置成减小所述传感器的传感器电容和/或从一个或多个处理器隔离所述传感器的传感器电容。
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