[发明专利]电容测量有效
| 申请号： | 201610848320.1 | 申请日： | 2016-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN106556747B | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | C·S·比尔克;J·A·克利里;D·S·蒙提拉;E·A·莉丽斯;P·欧克纳;E·E·英格列斯;P·帕拉特;K·安布莱奇;W·瑞恩斯;J·克洛斯 | 申请（专利权）人： | 亚德诺半导体集团 |
| 主分类号： | G01R27/26 | 分类号： | G01R27/26 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 陈华成 |
| 地址： | 百慕大群岛(*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本公开涉及电容测量。本发明的实施方案可以提供测量器件的未知电容的方法。该方法可包括如下步骤：向包括由具有未知电容的器件和基准电容器形成的分流器的电路系统驱动测试信号；将所述基准电容器中产生的电流镜像到包括测量阻抗的第二电路系统；测量第二电路系统内的电压；以及参考基准电容器的电容和测量阻抗，基于测得的电压来驱动未知电容的电容。 | ||
| 搜索关键词： | 电容 测量 | ||
【主权项】：
一种方法，包括：向包括由具有未知电容的器件和基准电容器形成的分流器的电路系统驱动测试信号；将所述基准电容器中产生的电流镜像到包括测量阻抗的第二电路系统；测量所述第二电路系统内的电压；以及参考所述基准电容器的电容以及测量阻抗，基于测得的电压来取得所述未知电容的电容。
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