[发明专利]用于系统误差检测的测量装置和测量方法有效
| 申请号： | 201610721405.3 | 申请日： | 2016-08-24 |
| 公开（公告）号： | CN106556749B | 公开（公告）日： | 2020-12-04 |
| 发明（设计）人： | 昂德里克·巴尔特科 | 申请（专利权）人： | 罗德施瓦兹两合股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 黄志华;何月华 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于系统误差检测的测量装置和测量方法。该测量装置包括处理单元(32)、适于接收第一信号的第一天线和适于接收第二信号的第二天线。所述处理单元(32)包括基线单元(321)，基线单元适于确定第一变量和/或第二变量的基线方差。此外，所述处理单元(32)包括方差单元(322)，方差单元适于确定所述第一变量和/或所述第二变量的方差。所述第一变量和所述第二变量分别至少初始来源于至少所述第一信号和所述第二信号。所述处理单元(32)还包括误差单元(324)，误差单元适于基于所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差和所述方差确定系统误差是否存在。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 系统误差 检测 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种测量装置，包括处理单元(32)、第一天线(21)和第二天线(22)，所述第一天线(21)适于接收第一信号，所述第二天线(22)适于接收第二信号，其特征在于，所述处理单元(32)包括：‑基线单元(321)，所述基线单元适于确定第一变量和/或第二变量的基线方差，‑方差单元(322)，所述方差单元适于确定所述第一变量和/或所述第二变量的方差，其中所述第一变量和所述第二变量分别至少初始来源于至少所述第一信号和所述第二信号，以及‑误差单元(324)，所述误差单元适于基于所述第一变量和/或所述第二变量的所述基线方差和所述方差确定系统误差是否存在。
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