[发明专利]具有裂纹终止的集成电路结构及其形成方法有效

专利信息
申请号: 201610738269.9 申请日: 2016-08-26
公开(公告)号: CN106486477B 公开(公告)日: 2019-10-01
发明(设计)人: J·S·梁;荻野·淳;S·E·格勒乔;R·A·阔恩 申请(专利权)人: 格罗方德半导体公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/02;H01L21/82
代理公司: 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人: 程伟;王锦阳
地址: 英属开曼群*** 国省代码: 开曼群岛;KY
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摘要: 发明涉及具有裂纹终止的集成电路结构及其形成方法。本发明的第一态样在提供集成电路结构。该集成电路结构可以包括在裂纹终止区域中的衬底上的第一介电层中的第一金属结构;以及在第二介电层中的第一裂纹终止结构,且该第一裂纹终止结构是在该第一金属结构上方并包含:接触该第一金属结构的第一金属填覆;以及实质上分隔该第一金属填覆及该第二介电层的空气缝隙。
搜索关键词: 具有 裂纹 终止 集成电路 结构 及其 形成 方法
【主权项】:
1.一种集成电路结构,包括:第一金属结构,其在裂纹终止区域中的衬底上的第一介电层中;以及第一裂纹终止结构,其在第二介电层中,且该第一裂纹终止结构是在该第一金属结构上方并包含:第一金属填覆,其接触该第一金属结构;以及第一空气缝隙,其实质上分隔该第一金属填覆及该第二介电层。
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