[发明专利]一种快恢复型芯片的制作工艺有效

专利信息
申请号: 201610518663.1 申请日: 2016-07-01
公开(公告)号: CN105977155B 公开(公告)日: 2020-03-20
发明(设计)人: 王道强;魏庆山 申请(专利权)人: 扬州虹扬科技发展有限公司
主分类号: H01L21/329 分类号: H01L21/329;H01L29/861
代理公司: 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 代理人: 马丽娜
地址: 225116 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了一种快恢复型芯片的制作工艺,包括以下步骤:附磷、磷源预沉积、磷分片、喷砂、涂硼、硼扩散、硼分片、涂白金液、白金扩散、氧化、匀胶、曝光、沟槽腐蚀、玻璃钝化、镀镍,本发明所制作出来的芯片,组装成桥式快恢复型后,在反向恢复时间上,较常规芯片时间更少,而且稳定性也较好,在客户端使用可靠性也较高。
搜索关键词: 一种 恢复 芯片 制作 工艺
【主权项】:
一种快恢复型芯片的制作工艺,其特征在于,包括以下步骤:附磷、磷源预沉积、磷分片、喷砂、涂硼、硼扩散、硼分片、涂白金液、白金扩散、氧化、匀胶、曝光、沟槽腐蚀、玻璃钝化、镀镍;(1)附磷:先进行硅片清洗,然后将浓度不低于70%的纸状磷源,夹在相邻的硅片之间,完成后,将硅片依次放置在石英舟上;(2)磷源预沉积:将装有硅片的石英舟放置到第一扩散炉中进行磷源分解,时间为1‑2h,然后送入第二扩散炉中进行预沉积,时间为3‑6h,在磷源分解和预沉积过程中,通入第一混合气体;(3)磷分片:将硅片放入不低于15℃的HF溶液中浸泡,时间15‑24h,待硅片自然分开后,依次进行冲水、超声震荡和冲水,确保硅片表面无残酸;(4)喷砂:对硅片未进行磷源预沉积的一面进行喷砂,使用喷砂机对硅片进行研磨,去除量为25‑35um;(5)涂硼:先进行硅片清洗,然后将硅片放置涂硼匀胶机旋转台上进行涂硼,完成后,将硅片置于加热板的滤纸上烤干6‑12min,按摆放时的先后顺序取下硅片置于不锈钢盘的滤纸上,将硅片涂硼面与涂硼面两两相对叠放,在硅片的附磷面撒有铝粉,最后放置在石英舟上;(6)硼扩散:将石英舟放入第三扩散炉中进行扩散,时间为20‑30h,扩散过程中,通入第二混合气体;(7)硼分片:将硼扩散后的硅片放入不低于15℃的HF溶液中浸泡,时间10‑18H,待硅片自然分开后,进行冲水、超声震荡和冲水,确保硅片表面无残酸;(8)涂白金液:将硅片放于涂铂机转盘上,对硅片的P面进行涂白金液,完成后,将硅片取下,放至加热板烘干,将烘干后的硅片涂白金面两两相对,摆放于石英舟内;(9)白金扩散:将石英舟送入第四扩散炉中进行扩散,时间为1‑2h,在扩散过程中,通入第三混合气体;(10)氧化:先进行硅片清洗,然后放置在石英舟上,送入第五扩散炉中进行氧化,时间为15‑20h,氧化过程中,通入热纯水的水蒸气;(11)匀胶、曝光和沟槽腐蚀:对氧化后的硅片两面涂抹光刻胶,进行曝光,使表面形成所需要的图形,最后使用混合酸进行化学腐蚀,腐蚀时间为600到800S;(12)玻璃钝化:将腐蚀后的硅片去胶后,送入玻璃液中进行电泳,然后进行化学镀镍,制作完成芯片。
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