[发明专利]一种快恢复型芯片的制作工艺有效
申请号: | 201610518663.1 | 申请日: | 2016-07-01 |
公开(公告)号: | CN105977155B | 公开(公告)日: | 2020-03-20 |
发明(设计)人: | 王道强;魏庆山 | 申请(专利权)人: | 扬州虹扬科技发展有限公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/861 |
代理公司: | 北京酷爱智慧知识产权代理有限公司 11514 | 代理人: | 马丽娜 |
地址: | 225116 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了一种快恢复型芯片的制作工艺,包括以下步骤:附磷、磷源预沉积、磷分片、喷砂、涂硼、硼扩散、硼分片、涂白金液、白金扩散、氧化、匀胶、曝光、沟槽腐蚀、玻璃钝化、镀镍,本发明所制作出来的芯片,组装成桥式快恢复型后,在反向恢复时间上,较常规芯片时间更少,而且稳定性也较好,在客户端使用可靠性也较高。 | ||
搜索关键词: | 一种 恢复 芯片 制作 工艺 | ||
【主权项】:
一种快恢复型芯片的制作工艺,其特征在于,包括以下步骤:附磷、磷源预沉积、磷分片、喷砂、涂硼、硼扩散、硼分片、涂白金液、白金扩散、氧化、匀胶、曝光、沟槽腐蚀、玻璃钝化、镀镍;(1)附磷:先进行硅片清洗,然后将浓度不低于70%的纸状磷源,夹在相邻的硅片之间,完成后,将硅片依次放置在石英舟上;(2)磷源预沉积:将装有硅片的石英舟放置到第一扩散炉中进行磷源分解,时间为1‑2h,然后送入第二扩散炉中进行预沉积,时间为3‑6h,在磷源分解和预沉积过程中,通入第一混合气体;(3)磷分片:将硅片放入不低于15℃的HF溶液中浸泡,时间15‑24h,待硅片自然分开后,依次进行冲水、超声震荡和冲水,确保硅片表面无残酸;(4)喷砂:对硅片未进行磷源预沉积的一面进行喷砂,使用喷砂机对硅片进行研磨,去除量为25‑35um;(5)涂硼:先进行硅片清洗,然后将硅片放置涂硼匀胶机旋转台上进行涂硼,完成后,将硅片置于加热板的滤纸上烤干6‑12min,按摆放时的先后顺序取下硅片置于不锈钢盘的滤纸上,将硅片涂硼面与涂硼面两两相对叠放,在硅片的附磷面撒有铝粉,最后放置在石英舟上;(6)硼扩散:将石英舟放入第三扩散炉中进行扩散,时间为20‑30h,扩散过程中,通入第二混合气体;(7)硼分片:将硼扩散后的硅片放入不低于15℃的HF溶液中浸泡,时间10‑18H,待硅片自然分开后,进行冲水、超声震荡和冲水,确保硅片表面无残酸;(8)涂白金液:将硅片放于涂铂机转盘上,对硅片的P面进行涂白金液,完成后,将硅片取下,放至加热板烘干,将烘干后的硅片涂白金面两两相对,摆放于石英舟内;(9)白金扩散:将石英舟送入第四扩散炉中进行扩散,时间为1‑2h,在扩散过程中,通入第三混合气体;(10)氧化:先进行硅片清洗,然后放置在石英舟上,送入第五扩散炉中进行氧化,时间为15‑20h,氧化过程中,通入热纯水的水蒸气;(11)匀胶、曝光和沟槽腐蚀:对氧化后的硅片两面涂抹光刻胶,进行曝光,使表面形成所需要的图形,最后使用混合酸进行化学腐蚀,腐蚀时间为600到800S;(12)玻璃钝化:将腐蚀后的硅片去胶后,送入玻璃液中进行电泳,然后进行化学镀镍,制作完成芯片。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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