[发明专利]两维激光光路齿轮测量装置有效
申请号: | 201610443808.6 | 申请日: | 2016-06-21 |
公开(公告)号: | CN107525464B | 公开(公告)日: | 2020-05-22 |
发明(设计)人: | 薛梓;林虎;黄垚;杨国梁;王鹤岩 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00;G01B11/14;G01B11/24 |
代理公司: | 北京慕达星云知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11465 | 代理人: | 李冉 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了两维激光光路齿轮测量装置。所述装置包括主运动轴系、光路跟踪调整轴系、激光干涉测量系统三部分,主运动轴系包括转台及三个直线运动轴系,主运动轴系按测量规划路径进行运动,执行整个测量过程的各种动作。光路跟踪调整轴系的三个直线运动轴跟随主运动轴系同步运动,保证激光光路不断光并处于准直状态。激光干涉测量系统具有X、Z两维激光测长光路,且布置在齿轮被测点附近,可直接测量齿轮的多个误差项。所述装置测量链短,测量精度高,柔性强,可满足齿轮误差的直接溯源测量。 | ||
搜索关键词: | 激光 齿轮 测量 装置 | ||
【主权项】:
两维激光光路齿轮测量装置包括主运动轴系、光路跟踪调整轴系、激光干涉测量系统三部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610443808.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。