[发明专利]一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法有效
| 申请号： | 201610237541.5 | 申请日： | 2016-04-15 |
| 公开（公告）号： | CN105910956B | 公开（公告）日： | 2019-02-26 |
| 发明（设计）人： | 杨晓;刘学建;姚秀敏;黄政仁;陈健;杨金晶 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 主分类号： | G01N9/24 | 分类号： | G01N9/24 |
| 代理公司： | 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙) 31261 | 代理人： | 曹芳玲;姚佳雯 |
| 地址： | 200050 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种工业CT分析物体密度及密度分布的方法，包括将已知密度物质作为参考物与被测物体一起置于检测台；参考物与被测物体距检测台中心距离一致；对两者线阵列扫描；取检测结果中包含被测物体与参考物任一切面为分析对象，以射束硬化环状伪影中心为圆心做基准圆，得到在基准圆圆周上与该中心距离一致的参考物及被测物体切面位置；在参考物切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做参考物圆，该圆所在范围均在参考物切面之内；在被测物体切面上以基准圆圆周上任一点为圆心做被测物体圆，该圆所在范围均在被测物体切面之内；被测物体圆与参考物圆面积一致；利用工业CT对两圆进行灰度分析以得到两者灰度；基于该灰度计算被测物体密度值。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工业 ct 分析 物体 密度 分布 方法 | ||
【主权项】：
1.一种工业CT分析物体密度的方法，其特征在于，包括：将已知密度的物质作为参考物，与被测物体一起置于检测台上；所述参考物与所述被测物体距离所述检测台中心的距离一致；对所述参考物与所述被测物体进行线阵列扫描；取检测结果中包含所述被测物体与所述参考物的任一切面为分析对象，以射束硬化环状伪影的中心为圆心做基准圆，得到在所述基准圆的圆周上、与该中心距离一致的参考物及被测物体的切面位置；在参考物的切面上，以所述基准圆的圆周上任一点为圆心做参考物圆，该圆所在范围均在所述参考物的切面之内；在被测物体的切面上，以所述基准圆的圆周上任一点为圆心做被测物体圆，该圆所在范围均在所述被测物体的切面之内；且所述被测物体圆与所述参考物圆的面积一致；利用工业CT对所述被测物体圆和所述参考物圆进行灰度分析以得到两者的灰度；基于所得到的灰度计算所述被测物体的密度值。
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