[发明专利]一种高光谱图像传感器的单片集成方法有效
申请号: | 201610214392.0 | 申请日: | 2016-04-07 |
公开(公告)号: | CN105742306B | 公开(公告)日: | 2018-12-25 |
发明(设计)人: | 崔虎山;项金娟;贺晓彬;杨涛;李俊峰;赵超 | 申请(专利权)人: | 中国科学院微电子研究所 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/82 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 赵秀芹;王宝筠 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种高光谱图像传感器的单片集成方法,包括:在CMOS图像传感器晶圆的感光区域表面上形成底反射层;采用区域选择性原子层沉积工艺在底反射层上形成透明空腔层;透明空腔层由N个台阶结构组成,N=2m,m≥1,且m为正整数,在透明空腔层上形成顶反射层。本发明提供的高光谱图像传感器的单片集成方法优化了现有技术采用刻蚀工艺导致的不均匀性累积的问题,同时在空腔层材料的选择上拓展到无法以刻蚀方法制造空腔层的材料。类似的一维的区域选择性原子层沉积方式可以延伸,如增加另一个维度并且做几个重复区域的话,即可以形成马赛克型多重不同高度和重复该结构的空腔层,可以应用到快照式高光谱图像传感器并大大提高其性能,如像素等。 | ||
搜索关键词: | 一种 光谱 图像传感器 单片 集成 方法 | ||
【主权项】:
1.一种高光谱图像传感器的单片集成方法,其特征在于,包括:预处理CMOS图像传感器晶圆的感光区域表面,使其平坦化;在预处理后的CMOS图像传感器晶圆的感光区域表面上形成底反射层;采用区域选择性原子层沉积工艺在所述底反射层上形成透明空腔层;其中,所述透明空腔层由N个台阶结构组成,其中,N=2m,m≥1,且m为正整数在所述透明空腔层上形成顶反射层;其中,所述采用区域选择性原子层沉积工艺在所述底反射层上形成透明空腔层,具体包括:通过m+1次区域选择性原子层沉积工艺在底反射层上形成N个台阶结构,所述N个台阶结构组成透明空腔层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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