[发明专利]探伤装置以及利用探伤装置的伤部检测方法有效
申请号: | 201610202357.7 | 申请日: | 2016-04-01 |
公开(公告)号: | CN106053593B | 公开(公告)日: | 2021-05-11 |
发明(设计)人: | 松本谦二 | 申请(专利权)人: | 码科泰克株式会社 |
主分类号: | G01N27/84 | 分类号: | G01N27/84;G01N21/88 |
代理公司: | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 11038 | 代理人: | 李今子 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供一种防止伤部的检测遗漏以及过检测而提高了伤部的检测率的探伤装置以及利用探伤装置的伤部检测方法。一种磁粉探伤装置(1),具备:摄像装置(16),对被检查物(10)的表面进行摄像;以及检测装置(30),对由摄像装置(16)摄像的原图像进行处理,检测表面处的伤部,其中,检测装置(30)具备:第1抽取部(31),利用第1阈值对原图像进行二值化处理,抽取第1伤候补部(40);检查区域生成部(32),以包括第1伤候补部(40)的方式生成检查区域(42);第2抽取部(33),利用第2阈值对检查区域(41)进行二值化处理,抽取第2伤候补部(42);以及伤判定部(34),对第2伤候补部(42)进行膨胀处理,检测伤部。 | ||
搜索关键词: | 探伤 装置 以及 利用 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种探伤装置,具备:摄像装置,对被检查物的表面进行摄像;以及检测装置,对由所述摄像装置摄像的原图像进行处理,检测所述表面处的伤部,其特征在于,所述检测装置具备:第1抽取部,利用第1阈值对所述原图像进行二值化处理,抽取第1伤候补部;检查区域生成部,以包括所述第1伤候补部的方式生成检查区域;第2抽取部,利用第2阈值对所述检查区域进行二值化处理,抽取第2伤候补部;以及伤判定部,对所述第2伤候补部进行膨胀处理,检测所述伤部。
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