[发明专利]一种具有防电流倒灌的P型金属氧化物半导体场效应管有效
申请号: | 201610180442.8 | 申请日: | 2016-03-25 |
公开(公告)号: | CN105679758B | 公开(公告)日: | 2017-12-29 |
发明(设计)人: | 王海波;张洪俞 | 申请(专利权)人: | 南京微盟电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/088 | 分类号: | H01L27/088;H01L29/78 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司32200 | 代理人: | 奚幼坚 |
地址: | 210042 江苏省南京市玄武*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种具有防电流倒灌的P型金属氧化物半导体场效应管的芯片结构,由于单个PMOSFET的漏极D到基源BS的寄生体二极管会由于漏源电压的变化导致漏电,本发明芯片工艺将两个PMOSFET串联,并设置各自的寄生二极管反向,利用二极管的单向导通性,就可以解决电位反转带来的寄生二极管漏电问题。工艺采用同一个P型衬底中设置两个N型阱,每个N型阱上面扩散两个高掺杂的P型区P+,另外在N型阱上面还扩散一个高掺杂的N型区N+,N阱电位悬浮,和源极连接。 | ||
搜索关键词: | 一种 具有 电流 倒灌 金属 氧化物 半导体 场效应 | ||
【主权项】:
一种具有防电流倒灌的P型金属氧化物半导体场效应管,P型金属氧化物半导体场效应管的结构为:以P型硅片作为衬底,在P型衬底中扩散一个N型阱作为基底B,在N型阱上面扩散两个高掺杂的P型区P+,分别作为源极S和漏极D,另外在N型阱上面还扩散一个高掺杂的N型区N+,作为N型阱的欧姆接触,用于对N型阱的引线,在P型硅片表面覆盖一层绝缘层,在绝缘层上面长出一层多晶硅层,从多晶硅层用金属铝引出一个栅极G,栅极G与漏极D以及源极S绝缘,其中,漏极D与N型阱之间,即漏极D与基底B之间产生一个寄生体二极管,该寄生体二极管的正端在漏极D,二极管的负端通过基底B区域引出后用金属铝连接至源极S,即基底B和源极S短路在一起,电位相同,称之为:基源BS电位;其特征在于:将上述两个相同结构的P型金属氧化物半导体场效应管串联,并将各自的寄生体二极管互为反向设置,即两个寄生体二极管的正端连接在一起,利用二极管的单向导通性,解决因P型金属氧化物半导体场效应管的漏极D电位和基源BS电位在出现电位高低反转时导致寄生体二极管漏电而产生的电流倒灌;具体结构如下:在同一个P型衬底中扩散两个N型阱分别作为两个P型金属氧化物半导体场效应管P1、P2的基底B1、B2,P型金属氧化物半导体场效应管P1的源极为S1、漏极为D1,栅极为G1,P型金属氧化物半导体场效应管P2的源极为S2、漏极为D2,栅极为G2,P型金属氧化物半导体场效应管P1的栅极G1与P型金属氧化物半导体场效应管P2的栅极G2通过铝线连接在一起作为栅极控制端GT,P型金属氧化物半导体场效应管P1的漏极D1与P型金属氧化物半导体场效应管P2的漏极D2通过铝线连接在一起,P型金属氧化物半导体场效应管P1的源极S1和基底B1通过铝线连接在一起,作为接口IO1,P型金属氧化物半导体场效应管P2的源极S2和基底B2通过铝线连接在一起,作为接口IO2,P型金属氧化物半导体场效应管P1的寄生体二极管d1的正端在漏极D1,寄生体二极管d1的负端在基底B1,P型金属氧化物半导体场效应管P2的寄生体二极管d2的正端在漏极D2,寄生体二极管d2的负端在基底B2。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京微盟电子有限公司,未经南京微盟电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201610180442.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:冲头高度自动切换机构
- 下一篇:一种冲孔整形装置
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的