[发明专利]互补型薄膜晶体管及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201610113712.3 申请日: 2016-02-29
公开(公告)号: CN105742308B 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 曾勉;萧祥志;张盛东 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L27/28 分类号: H01L27/28;H01L51/05;H01L51/10;H01L51/00;H01L51/40
代理公司: 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 代理人: 黄威
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开一种互补型薄膜晶体管及其制造方法,所述互补型薄膜晶体管包含包含一基板、一N型半导体层、一P型半导体层及一刻蚀阻挡层;所述基板定义有相邻的一N型晶体管区及一P型晶体管区,所述N型半导体层设置在所述基板上方且位于所述N型晶体管区中,所述N型半导体层包含一金属氧化物材料,所述P型半导体层设置在所述基板上方且位于所述P型晶体管区中,所述P型半导体层包含一有机半导体材料,所述刻蚀阻挡层形成在所述N型半导体层上并位于所述N型晶体管区及所述P型晶体管区中,且所述P型半导体层形成在所述刻蚀阻挡层上。
搜索关键词: 互补 薄膜晶体管 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种互补型薄膜晶体管,其特征在于:所述互补型薄膜晶体管包含:一基板,定义有相邻的一N型晶体管区及一P型晶体管区;一N型半导体层,设置在所述基板上方且位于所述N型晶体管区中,其中所述N型半导体层包含一金属氧化物材料;一P型半导体层,设置在所述基板上方且位于所述P型晶体管区中,其中所述P型半导体层包含一有机半导体材料;一刻蚀阻挡层,形成在所述N型半导体层上并位于所述N型晶体管区及所述P型晶体管区中,且所述P型半导体层形成在所述刻蚀阻挡层上;及一电极金属层,形成在位于所述N型晶体管区及所述P型晶体管区中,其中所述电极金属层形成在所述N型半导体层上,所述P型半导体层形成在所述电极金属层上,所述电极金属层通过所述刻蚀阻挡层的至少一通孔而与所述N型半导体层接触。
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