[发明专利]晶片封装体与其制备方法在审

专利信息
申请号: 201610069667.6 申请日: 2016-02-01
公开(公告)号: CN105858586A 公开(公告)日: 2016-08-17
发明(设计)人: 温英男;姚皓然;刘建宏 申请(专利权)人: 精材科技股份有限公司
主分类号: B81B7/00 分类号: B81B7/00;B81C3/00
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 中国台湾桃园市中*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种晶片封装体与其制备方法,该晶片封装体包含:一基板;一顶盖层,位于基板上,且具有一第一开口贯穿顶盖层;一第一腔室,位于基板与顶盖层之间;一第一微机电元件,位于第一腔室中;一第一塞件,位于第一开口中;以及一第一密封盖,位于顶盖层上以密封第一开口。本发明能整合不同的微机电元件于晶片封装体中,且密封盖还能防止腔室漏气的情事发生,进而提升晶片封装体的良率与使用寿命。
搜索关键词: 晶片 封装 与其 制备 方法
【主权项】:
一种晶片封装体,其特征在于,包含:一基板;一顶盖层,位于该基板上,且具有一第一开口贯穿该顶盖层;一第一腔室,位于该基板与该顶盖层之间;一第一微机电元件,位于该第一腔室中;一第一塞件,位于该第一开口中;以及一第一密封盖,位于该顶盖层上以密封该第一开口。
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