[发明专利]一种双栅TFT阵列基板及其制造方法和显示装置有效
申请号: | 201610040520.4 | 申请日: | 2016-01-21 |
公开(公告)号: | CN105514120B | 公开(公告)日: | 2018-07-20 |
发明(设计)人: | 牛菁;春晓改 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/12 | 分类号: | H01L27/12;H01L21/77;G02F1/1333 |
代理公司: | 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 | 代理人: | 郭栋梁 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种双栅TFT阵列基板及其制造方法和显示装置,其中,制造方法包括:通过一次构图工艺形成公共电极和顶栅。本发明提供的双栅TFT阵列基板及其制造方法,通过一次构图工艺形成公共电极和顶栅,与传统的先制作公共电极,再制作顶栅的工艺过程相比,减少了构图工艺的次数,简化了工艺流程。同时,本发明中通过还原方法得到的双栅TFT阵列基板中的顶栅与底栅具有相近的电阻,保证了整个阵列基板的稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 tft 阵列 及其 制造 方法 显示装置 | ||
【主权项】:
1.一种双栅TFT阵列基板的制造方法,其特征在于,包括:形成透明金属氧化物层;在所述透明金属氧化物层上形成光刻胶;对所述光刻胶进行半灰阶掩膜曝光处理,通过显影,保留第一区域的光刻胶,部分保留第二区域的光刻胶,去除其他区域光刻胶;蚀刻掉所述其他区域的透明金属氧化物层;通过一次灰化工艺去除所述第二区域的光刻胶,减薄所述第一区域的光刻胶厚度;对第二区域的透明金属氧化物层进行等离子还原气体表面处理,以析出所述第二区域的透明金属氧化物层中的金属,将所述第一区域的透明金属氧化物层作为公共电极,将所述第二区域的金属层作为顶栅。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
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H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的