[发明专利]IO功率总线网格结构设计有效

专利信息
申请号: 201580060178.8 申请日: 2015-10-15
公开(公告)号: CN107078121B 公开(公告)日: 2019-12-20
发明(设计)人: R·V·辛格瓦;R·T·谢蒂 申请(专利权)人: 高通股份有限公司
主分类号: H01L23/528 分类号: H01L23/528;H01L23/488
代理公司: 31100 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 李小芳;袁逸
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种MOS器件包括IO焊盘环。该MOS器件包括位于IO焊盘环的第一侧上的第一IO焊盘以及位于IO焊盘环的第二侧上的第二IO焊盘。第一IO焊盘包括在第一方向上延伸的金属x层功率互连。第一金属x层功率互连是金属x层的功率互连。第二侧与第一侧呈90°。第二IO焊盘包括在第一方向上延伸的第二金属x层功率互连。第二金属x层功率互连是金属x层的功率互连。第二IO焊盘还可包括与第二IO焊盘的第二金属x层功率互连正交地延伸的金属x+1层功率互连或金属x‑1层功率互连中的至少一者。
搜索关键词: io 功率 总线 网格 结构设计
【主权项】:
1.一种包括输入/输出(IO)焊盘环的金属氧化物半导体(MOS)器件,所述IO焊盘环位于所述MOS器件的核心与所述MOS器件的外部引脚之间,所述MOS器件包括:/n第一IO焊盘,所述第一IO焊盘被配置成在所述MOS器件的所述核心与所述外部引脚之间传送信号并且位于所述IO焊盘环的第一侧上,所述第一IO焊盘包括第一功率网格,所述第一功率网格包括在第一方向上延伸的第一金属x层功率互连,所述第一金属x层功率互连是金属x层的功率互连;以及/n第二IO焊盘,所述第二IO焊盘被配置成在所述MOS器件的所述核心与所述外部引脚之间传送信号并且位于所述IO焊盘环的第二侧上,所述第二侧与所述第一侧呈90°,所述第二IO焊盘包括第二功率网格,所述第二功率网格包括在所述第一方向上延伸的第二金属x层功率互连,所述第二金属x层功率互连是所述金属x层的功率互连,/n其中所述IO焊盘环的第一侧上的所述第一IO焊盘的所述第一功率网格中的所述金属x层上的所述第一金属x层功率互连平行于与所述IO焊盘环的第一侧呈90°的所述IO焊盘环的第二侧上的所述第二IO焊盘的所述第二功率网格中的相同金属x层上的所述第二金属x层功率互连。/n
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