[发明专利]基板处理装置以及基板处理装置的配管清洗方法有效
申请号: | 201580016524.2 | 申请日: | 2015-03-17 |
公开(公告)号: | CN106165067B | 公开(公告)日: | 2019-12-13 |
发明(设计)人: | 国泽淳次;丸山徹;今井正芳;前田幸次;宫崎充;本坊光朗;丰增富士彦 | 申请(专利权)人: | 株式会社荏原制作所 |
主分类号: | H01L21/304 | 分类号: | H01L21/304 |
代理公司: | 31300 上海华诚知识产权代理有限公司 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本东京都*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及一种将清洗液(例如纯水或药液)供给至晶片等的基板来处理基板的基板处理装置以及该基板处理装置的配管清洗方法。本发明的基板处理装置的特征在于,具备:第一清洗路径,其包含将纯水供给至基板以清洗该基板的多个第一清洗单元(52、54);第二清洗路径,其包含将纯水供给至基板以清洗该基板的多个第二清洗单元(60、62);第一纯水供给配管(120),将纯水供给至第一清洗路径;及第二纯水供给配管(180),将纯水供给至第二清洗路径。 | ||
搜索关键词: | 处理 装置 以及 清洗 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基板处理装置,其特征在于,具备:/n研磨部,该研磨部具有用于研磨基板的多个研磨单元;/n清洗部,该清洗部具有第一清洗路径、第二清洗路径及搬运机械手臂,该第一清洗路径包含将纯水供给至由所述研磨部研磨后的基板来清洗该基板的多个第一清洗单元,该第二清洗路径包含将纯水供给至由所述研磨部研磨后的基板来清洗该基板的多个第二清洗单元,该搬运机械手臂将研磨后的所述基板从所述研磨部搬运至所述第一清洗路径或所述第二清洗路径,该清洗部以所述第一清洗路径及所述第二清洗路径并列地清洗多个所述基板;/n第一纯水供给配管,该第一纯水供给配管将所述纯水供给至所述第一清洗路径;/n第二纯水供给配管,该第二纯水供给配管将所述纯水供给至所述第二清洗路径;/n第一压力调整阀,该第一压力调整阀配置于所述第一纯水供给配管;及/n第二压力调整阀,该第二压力调整阀配置于所述第二纯水供给配管,/n所述第一纯水供给配管及所述第二纯水供给配管单独地配置,并且分别与工厂纯水线连接,/n所述纯水向所述第一清洗路径的供给和所述纯水向所述第二清洗路径的供给是相互独立进行的。/n
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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