[实用新型]含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元有效

专利信息
申请号: 201520373254.8 申请日: 2015-06-02
公开(公告)号: CN204668308U 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 张弓 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;H01L29/78;H01L29/10
代理公司: 上海光华专利事务所 31219 代理人: 余明伟
地址: 100176 北京市大兴区大*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元,包括:N型源/漏离子注入区;第一P型源/漏离子注入区;第二P型源/漏离子注入区;第一半导体鳍;第二半导体鳍;第一栅电极,跨过第一半导体鳍以形成传输门晶体管;第二栅电极,与第一半导体鳍一起形成上拉晶体管,并与第二半导体鳍形成下拉晶体管。传输门晶体管与上拉晶体管共用一个半导体鳍,且均设定为P MOS,并下拉晶体管设定为NMOS,在不增加结构中位单元面积的前提下,可以将P型源/漏离子注入区及N型源/漏离子注入区进行相应的离子注入时,遮挡区域与暴露区域的比(line/space)由6/3降低至4/5,更接近1/1的工艺要求,更容易得到所需的工艺窗口,使得离子注入工艺更容易实现。
搜索关键词: 含鳍式 场效应 晶体管 静态 随机 存储器 单元
【主权项】:
一种含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元,其特征在于,至少包括:N型源/漏离子注入区;第一P型源/漏离子注入区及第二P型源/漏离子注入区,位于所述N型源/漏离子注入区的相对侧;第一半导体鳍,位于第一P型源/漏离子注入区及所述第二P型源/漏离子注入区;第二半导体鳍,位于所述N型源/漏离子注入区;第一栅电极,位于所述第一P型源/漏离子注入区及所述第二P型源/漏离子注入区,所述第一栅电极跨过所述第一半导体鳍以形成传输门晶体管;第二栅电极,延伸进入所述第一P型源/漏离子注入区及所述N型源/漏离子注入区,或延伸进入所述第二P型源/漏离子注入区及所述N型源/漏离子注入区;所述第二栅电极与所述第一半导体鳍一起形成上拉晶体管,并与所述第二半导体鳍形成下拉晶体管。
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