[实用新型]含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元有效
申请号: | 201520373254.8 | 申请日: | 2015-06-02 |
公开(公告)号: | CN204668308U | 公开(公告)日: | 2015-09-23 |
发明(设计)人: | 张弓 | 申请(专利权)人: | 中芯国际集成电路制造(北京)有限公司 |
主分类号: | H01L27/11 | 分类号: | H01L27/11;H01L29/78;H01L29/10 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 100176 北京市大兴区大*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本实用新型提供一种含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元,包括:N型源/漏离子注入区;第一P型源/漏离子注入区;第二P型源/漏离子注入区;第一半导体鳍;第二半导体鳍;第一栅电极,跨过第一半导体鳍以形成传输门晶体管;第二栅电极,与第一半导体鳍一起形成上拉晶体管,并与第二半导体鳍形成下拉晶体管。传输门晶体管与上拉晶体管共用一个半导体鳍,且均设定为P MOS,并下拉晶体管设定为NMOS,在不增加结构中位单元面积的前提下,可以将P型源/漏离子注入区及N型源/漏离子注入区进行相应的离子注入时,遮挡区域与暴露区域的比(line/space)由6/3降低至4/5,更接近1/1的工艺要求,更容易得到所需的工艺窗口,使得离子注入工艺更容易实现。 | ||
搜索关键词: | 含鳍式 场效应 晶体管 静态 随机 存储器 单元 | ||
【主权项】:
一种含鳍式场效应晶体管的静态随机存储器单元,其特征在于,至少包括:N型源/漏离子注入区;第一P型源/漏离子注入区及第二P型源/漏离子注入区,位于所述N型源/漏离子注入区的相对侧;第一半导体鳍,位于第一P型源/漏离子注入区及所述第二P型源/漏离子注入区;第二半导体鳍,位于所述N型源/漏离子注入区;第一栅电极,位于所述第一P型源/漏离子注入区及所述第二P型源/漏离子注入区,所述第一栅电极跨过所述第一半导体鳍以形成传输门晶体管;第二栅电极,延伸进入所述第一P型源/漏离子注入区及所述N型源/漏离子注入区,或延伸进入所述第二P型源/漏离子注入区及所述N型源/漏离子注入区;所述第二栅电极与所述第一半导体鳍一起形成上拉晶体管,并与所述第二半导体鳍形成下拉晶体管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
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