[发明专利]建筑物表面缺陷检测方法及系统在审
| 申请号： | 201510970820.8 | 申请日： | 2015-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN105608695A | 公开（公告）日： | 2016-05-25 |
| 发明（设计）人： | 尚砚娜;石晶欣;赵岩;蔡友发;朱君尧 | 申请（专利权）人： | 北京光电技术研究所 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 | 代理人： | 杨贝贝;黄健 |
| 地址： | 100010 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种建筑物表面缺陷检测方法及系统，该方法包括：根据建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世界坐标，确定第一映射关系，该第一映射关系为空间任意一点在第一架设坐标系下的直角坐标与在所述世界坐标系下的世界坐标的映射关系，定位建筑物表面的第一缺陷，获取第一缺陷的图像信息和在第一架设坐标系下的直角坐标；根据第一缺陷在第一架设坐标系下的直角坐标和第一映射关系，确定第一缺陷的世界坐标；根据第一缺陷在第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一缺陷的图像信息确定所述第一缺陷的实际尺寸信息。这种基于定位的自动缺陷检测方法比较省时、省力，从而提高缺陷检测效率。 | ||
| 搜索关键词： | 建筑物 表面 缺陷 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种建筑物表面缺陷检测方法，其特征在于，包括：根据建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世界坐标，确定第一映射关系，所述第一映射关系为空间任意一点在所述第一架设坐标系下的直角坐标与在所述世界坐标系下的世界坐标的映射关系，所述目标点为所述建筑物上的固定点；定位建筑物表面的第一缺陷，获取所述第一缺陷的图像信息和在所述第一架设坐标系下的直角坐标；根据所述第一缺陷在所述第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一映射关系，确定所述第一缺陷的世界坐标；根据所述第一缺陷在所述第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一缺陷的图像信息确定所述第一缺陷的实际尺寸信息。
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