[发明专利]建筑物表面缺陷检测方法及系统在审

专利信息
申请号: 201510970820.8 申请日: 2015-12-22
公开(公告)号: CN105608695A 公开(公告)日: 2016-05-25
发明(设计)人: 尚砚娜;石晶欣;赵岩;蔡友发;朱君尧 申请(专利权)人: 北京光电技术研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G01N21/88
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 杨贝贝;黄健
地址: 100010 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 建筑物 表面 缺陷 检测 方法 系统
【说明书】:

技术领域

发明实施例涉及建筑领域中缺陷定位、检测技术,尤其涉及一种建筑 物表面缺陷检测方法及系统。

背景技术

在现有的土木工程缺陷鉴定领域中,建筑物表面缺陷是建筑工程中的重 要力学参数,直接关系到建筑的载力和耐久性,其中,这里的缺陷通常是指 待测建筑物上存在的裂缝、蜂窝、孔洞和脱落等。同时,建筑物表面缺陷是 衡量建筑物的安全性和可靠性的重要条件和依据。

目前,在对建筑物上存在的缺陷进行检测时,主要采用的是传统的接触 式检测方法,所谓接触式检测方法即需要检测人员对缺陷进行近距离接触式 检测,测量等,然而,目前一些大型建筑物,例如:桥梁、大坝等,以及特 种建筑物,例如:核电站安全壳、烟囱等,往往需要对缺陷进行非接触式检 测。

然而,这种接触式检测方法耗时、耗力,导致检测效率比较低。

发明内容

本发明实施例提供一种建筑物表面缺陷检测方法及系统,从而提高缺陷 检测效率。

第一方面,本发明实施例提供一种建筑物表面缺陷检测方法,包括:

根据建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世 界坐标系下的世界坐标,确定第一映射关系,所述第一映射关系为空间任意 一点在所述第一架设坐标系下的直角坐标与在所述世界坐标系下的世界坐标 的映射关系,所述目标点为所述建筑物上的固定点;

定位建筑物表面的第一缺陷,获取所述第一缺陷的图像信息和在所述第 一架设坐标系下的直角坐标;

根据所述第一缺陷在所述第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一映射 关系,确定所述第一缺陷的世界坐标;

根据所述第一缺陷在所述第一架设坐标系下的直角坐标和所述第一缺陷 的图像信息确定所述第一缺陷的实际尺寸信息。

结合第一方面,在第一方面的第一种可能实施方式中,该方法还包括:

将所述第一缺陷的世界坐标和实际尺寸信息与本地数据库中的所述第一 缺陷的历史世界坐标和历史实际尺寸信息进行对比,分析所述第一缺陷的演 化趋势,并更新所述本地数据库。

结合第一方面,在第一方面的第二种可能实施方式中,所述根据建筑物 上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世 界坐标,确定第一映射关系之前,还包括:

获取所述建筑物上的至少两个目标点在第一架设坐标系下的球面坐标;

根据每个目标点在第一架设坐标系下的球面坐标确定所述每个目标点在 第一架设坐标系下的直角坐标。

结合第一方面或第一种可能实施方式或第二种可能实施方式,在第一方 面的第三种可能实施方式中,所述根据建筑物上的至少两个目标点在第一架 设坐标系下的直角坐标和在世界坐标系下的世界坐标,确定第一映射关系, 包括:

假设任意两个目标点P1、P2的世界坐标分别为Pw1=(xw1,yw1,zw1)T和 pw2=(xw2,yw2,zw2)T,P1、P2在第一架设坐标系下的直角坐标分别为 P11=(x11,y11,z11)T和P12=(x12,y12,z12)T,则确定第一映射关系为:

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