[发明专利]非易失性存储器控制装置以及非易失性存储器控制方法有效
| 申请号： | 201510917163.0 | 申请日： | 2015-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN105700822B | 公开（公告）日： | 2019-01-04 |
| 发明（设计）人： | 桝元孝介;长谷部孝 | 申请（专利权）人： | 柯尼卡美能达株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/06 | 分类号： | G06F3/06 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 薛仑 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种非易失性存储器控制装置以及非易失性存储器控制方法。在对可改写的半导体非易失性存储器的多个分区分别进行数据的读写控制的非易失性存储器控制装置中，具备：擦除次数计数部，对每一个分区的总计的擦除次数进行计数；读出次数计数部，将对每一个分区的同一数据的连续的读出次数进行计数；数据读出写入部，对非易失性存储器进行数据的读写；以及控制部，在特定的分区的擦除次数为规定的次数以上、存在与特定的分区相比擦除次数少、且读出次数多的分区的情况下，对数据读出写入部进行控制，以将该分区的数据和特定的分区的数据调换。 | ||
| 搜索关键词： | 非易失性存储器 控制 装置 以及 方法 | ||
【主权项】：
1.一种非易失性存储器控制装置，对可改写的半导体非易失性存储器的多个分区分别进行数据的读写控制，其特征在于，具备：擦除次数计数部，对每一个所述分区的总计的擦除次数进行计数；读出次数计数部，将对每一个所述分区的同一数据的连续的读出次数进行计数；数据读出写入部，对所述可改写的半导体非易失性存储器进行数据的读写；以及控制部，在特定的分区的擦除次数为规定的次数以上、并且存在与所述特定的分区相比擦除次数少、且读出次数多的分区的情况下，对所述数据读出写入部进行控制，以将该分区的数据和所述特定的分区的数据进行调换。
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