[发明专利]TFT基板的制作方法有效
| 申请号: | 201510883687.2 | 申请日: | 2015-12-03 |
| 公开(公告)号: | CN105390443B | 公开(公告)日: | 2018-11-23 |
| 发明(设计)人: | 张晓星 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/77 | 分类号: | H01L21/77 |
| 代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
| 地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | 本发明提供一种TFT基板的制作方法,在对非晶硅层进行离子植入诱导结晶后,无需将得到的多晶硅层表面的离子诱导层完全去除,而是通过半色调光罩工艺,仅仅去除沟道区的离子诱导层,且后续的源/漏极接触区也不需要再次进行离子植入,从而节省了再次进行离子植入所需的光罩;同时源/漏极也在所述半色调光罩下完成制作,从而节省了制作源/漏极所需的光罩;并且因为先制作源/漏极,所以省去了层间绝缘层的制作,从而节省了制作层间绝缘层所需的光罩;本发明的TFT基板的制作方法通过使用半色调光罩工艺,将现有技术所需的九道光罩缩减至六道光罩,有效简化了制程,提高了生产效率,节省了生产成本。 | ||
| 搜索关键词: | tft 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板的制作方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、提供基板(1),在所述基板(1)上沉积缓冲层(2),在所述缓冲层(2)上沉积非晶硅层(3);步骤2、对所述非晶硅层(3)进行离子植入,并进行高温烘烤使非晶硅结晶转变为多晶硅,得到位于缓冲层(2)上的多晶硅层(4)、及位于多晶硅层(4)上的离子诱导层(5);步骤3、在所述离子诱导层(5)上沉积第一金属层(60),在所述第一金属层(60)上涂布光阻,提供半色调光罩,利用所述半色调光罩对所述光阻进行曝光、显影,得到相互间隔的第一光阻段(51)与第二光阻段(52);所述第一光阻段(51)的两侧区域(511)的厚度大于中间区域(512)的厚度;步骤4、以所述第一光阻段(51)与第二光阻段(52)为遮蔽层,对所述第一金属层(60)、离子诱导层(5)、多晶硅层(4)进行蚀刻,得到岛状半导体与源/漏极区域(61);步骤5、对所述第一光阻段(51)与第二光阻段(52)进行灰化处理,去除所述第一光阻段(51)的中间区域(512),以剩余的第一光阻段(51)为遮蔽层,对所述岛状半导体与源/漏极区域(61)中的第一金属层(60)、及离子诱导层(5)进行蚀刻,得到具有沟道区(41)的岛状半导体层(40)、位于所述岛状半导体层(40)上的源/漏极接触区(50)、及位于所述源/漏极接触区(50)上的源/漏极(6);剥离剩余的第一光阻段(51)与第二光阻段(52);步骤6、在所述源/漏极(6)上沉积栅极绝缘层(7);在所述栅极绝缘层(7)上沉积第二金属层,并对所述第二金属层进行图案化处理,形成栅极(8);步骤7、在所述栅极绝缘层(7)、栅极(8)上形成保护层(9);在所述保护层(9)上形成平坦层(10);在所述平坦层(10)、保护层(9)、及栅极绝缘层(7)上对应源/漏极(6)的上方形成过孔(91);步骤8、在所述平坦层(10)上制作阴极(11),所述阴极(11)经由所述过孔(91)与所述源/漏极(6)相接触;在所述平坦层(10)上形成像素定义层(12),并在所述像素定义层(12)上形成开口(121)以暴露出部分阴极(11);在所述开口(121)处蒸镀OLED(13);所述步骤1中,所述非晶硅层(3)的厚度为![]()
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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