[发明专利]TFT基板结构的制作方法有效
申请号: | 201510581903.8 | 申请日: | 2015-09-11 |
公开(公告)号: | CN105068373B | 公开(公告)日: | 2019-05-31 |
发明(设计)人: | 史雷婷;张占东 | 申请(专利权)人: | 武汉华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G03F1/32 | 分类号: | G03F1/32;G03F7/20;G02F1/1339 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 430070 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种TFT基板结构的制作方法。本发明的TFT基板结构的制作方法,利用半色调光罩通过一次曝光在平坦层上形成过孔与沟槽,通过半色调光罩上的半透光性的图案实现半曝光,在扇出区的平坦层上形成深度较浅的沟槽,从而使得扇出区的平坦层上的沟槽的坡度变缓,避免了在进行光阻曝光显影时沟槽角落处的光阻曝光不彻底而导致透明导电层在沟槽角落处残留的现象,进而避免了扇出区的金属线路之间出现短路的现象,同时不影响有效显示区的开口率,大大提高了液晶显示面板的显示品质;并通过加宽扇出区的平坦层上的沟槽的宽度,避免了由于沟槽坡度变缓、深度减少而带来的封框胶粘附力变差的现象,进而保证了液晶显示面板内的封框胶的粘附性不受影响。 | ||
搜索关键词: | tft 板结 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种TFT基板结构的制作方法,包括:步骤1、提供一基板(10),所述基板(10)上设有薄膜晶体管;所述基板(10)包括有效显示区(11)和围绕所述有效显示区(11)的周边线路区(12),所述周边线路区(12)包括扇出区(121)和非扇出区;在所述基板(10)上涂布形成平坦层(20);其特征在于,包括:步骤2、提供第一光罩(50),所述第一光罩(50)上具有对应于所述有效显示区(11)的第一图案(51)、对应于所述周边线路区(12)的非扇出区的第二图案(52)、及对应于所述扇出区(121)的第三图案(53);所述第二图案(52)、第三图案(53)用于在所述周边线路区(12)的平坦层(20)上形成沟槽;所述第一光罩(50)为半色调光罩,所述第一图案(51)、第二图案(52)为全透光,所述第三图案(53)为半透光;利用所述第一光罩(50)对所述平坦层(20)进行曝光、显影,通过第一光罩(50)上的第一图案(51)实现全曝光从而在有效显示区(11)上方形成过孔;通过第一光罩(50)上的第二图案(52)实现全曝光从而在非扇出区的平坦层(20)上形成第一沟槽(21);通过第一光罩(50)上的第三图案(53)实现半曝光从而在扇出区(121)的平坦层(20)上形成第二沟槽(22);步骤3、在所述平坦层(20)上形成透明导电层;步骤4、在所述透明导电层上涂覆光阻;提供第二光罩,利用第二光罩对所述光阻进行曝光、显影,去除位于所述第一沟槽(21)、第二沟槽(22)上的光阻;步骤5、以剩余的光阻为遮挡,对所述透明导电层进行蚀刻,并剥离剩余的光阻,得到电极。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于武汉华星光电技术有限公司,未经武汉华星光电技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510581903.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备