[发明专利]微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统

摘要

本发明公开了一种微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统，属于微波测试领域，所述多频段测量装置包括底座，所述底座上设置有固定支架和可调支架，所述固定支架上安装有可拆卸的第一金属谐振腔，所述可调支架上安装有可拆卸的第二金属谐振腔，所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔相对设置。本发明的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置，可以实现固定端谐振腔和可移动端谐振腔均可以在垂直于轴向的水平与竖直方向的位置微调；本发明的谐振腔组件易于拆卸，可以安装腔体部分尺寸不同的多个谐振腔组件，实现多频段的材料复介电常数测量；本发明的结构布局简易，易于操作。

主权项

一种微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置，其特征在于，包括底座，所述底座上设置有固定支架和可调支架，所述固定支架上安装有可拆卸的第一金属谐振腔，所述可调支架上安装有可拆卸的第二金属谐振腔，所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔相对设置，其中：所述固定支架包括所述固定支架主体，所述固定支架主体下端安装在所述底座上，所述固定支架主体的内侧设置有沿竖向延伸的凹形槽，所述凹形槽内设置有滑动基座，所述滑动基座上设置有所述第一金属谐振腔，所述凹形槽的上部设置有用于调节所述滑动基座的竖向位置的位置调节螺栓，所述固定支架主体的外侧设置有用于固定所述滑动基座的竖向位置的定位紧固螺栓；所述可调支架包括轴向滑动支架和用于调节所述轴向滑动支架的轴向位置的轴向位置调节装置，所述底座上设置有与所述轴向滑动支架相配合的滑动导轨，所述轴向滑动支架的内侧设置有所述第二金属谐振腔。