[发明专利]微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置及系统有效

专利信息
申请号: 201510564399.0 申请日: 2015-09-07
公开(公告)号: CN105116234B 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 赵飞;沙长涛;王珂;王文峰;阚劲松 申请(专利权)人: 工业和信息化部电子工业标准化研究院
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京恩赫律师事务所11469 代理人: 赵文成
地址: 100007 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 微波 介质 材料 介电常数 频段 测量 装置 系统
【权利要求书】:

1.一种微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,包括底座,所述底座上设置有固定支架和可调支架,所述固定支架上安装有可拆卸的第一金属谐振腔,所述可调支架上安装有可拆卸的第二金属谐振腔,所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔相对设置,其中:

所述固定支架包括所述固定支架主体,所述固定支架主体下端安装在所述底座上,所述固定支架主体的内侧设置有沿竖向延伸的凹形槽,所述凹形槽内设置有滑动基座,所述滑动基座上设置有所述第一金属谐振腔,所述凹形槽的上部设置有用于调节所述滑动基座的竖向位置的位置调节螺栓,所述固定支架主体的外侧设置有用于固定所述滑动基座的竖向位置的定位紧固螺栓;

所述可调支架包括轴向滑动支架和用于调节所述轴向滑动支架的轴向位置的轴向位置调节装置,所述底座上设置有与所述轴向滑动支架相配合的滑动导轨,所述轴向滑动支架的内侧设置有所述第二金属谐振腔。

2.根据权利要求1所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述固定支架主体的外侧与所述滑动基座的四角相对应的位置设置有用于对所述滑动基座垂直轴向的各方向进行角度调节的平衡调节螺栓,所述平衡调节螺栓上套设有弹簧,所述凹形槽为T形槽或燕尾槽。

3.根据权利要求2所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述滑动基座上设置有用于可拆卸的安装所述第一金属谐振腔的第一谐振腔基座。

4.根据权利要求1所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述轴向滑动支架上设置有用于可拆卸的安装所述第二金属谐振腔的第二谐振腔基座。

5.根据权利要求4所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述轴向滑动支架的内侧设置有沿垂直轴向的水平方向延伸的凹槽,所述第二谐振腔基座设置在所述凹槽内,所述凹槽的两端设置有用于调节所述第二谐振腔基座的沿垂直轴向的水平方向位置的位置调节螺栓和用于固定所述第二谐振腔基座的水平方向位置的定位紧固螺栓,所述凹槽为T形槽或燕尾槽。

6.根据权利要求5所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述轴向位置调节装置包括设置在所述底座上的测微器固定架和固定在所述测微器固定架上的螺旋测微器,所述螺旋测微器的末端设置有顶球,所述螺旋测微器通过所述顶球推动所述轴向滑动支架。

7.根据权利要求1-6中任一所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔上均设置有用于控制探针伸入谐振腔的长度的配套探针微调机构,所述配套探针微调机构采用涡轮蜗杆结构设计,所述配套探针微调机构上设置有用于安装探针电缆的电缆槽,所述电缆槽上盖设有电缆盖板。

8.根据权利要求7所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述第一金属谐振腔和第二金属谐振腔的底面四角设置有用于固定的螺孔,对角位置设置有一对定位销钉孔。

9.根据权利要求7所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置,其特征在于,所述底座的四周设置有用于安装地脚的螺孔,所述底座的中心线处开设有用于安装所述滑动导轨的若干长圆形通孔,所述长圆形通孔之间间隔有定位销钉孔,所述底座设置有用于定位所述固定支架的定位销孔。

10.一种微波介质材料的复介电常数的多频段测量系统,其特征在于,包括矢量网络分析仪,所述矢量网络分析仪连接有权利要求1-9中任一所述的微波介质材料的复介电常数的多频段测量装置。

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