[发明专利]纳米T型栅的制作方法有效

专利信息
申请号: 201510433165.2 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN105118774B 公开(公告)日: 2018-03-30
发明(设计)人: 张立森;邢东;王俊龙;梁士雄;杨大宝;冯志红 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十三研究所
主分类号: H01L21/28 分类号: H01L21/28;H01L21/335
代理公司: 石家庄国为知识产权事务所13120 代理人: 苏英杰
地址: 050051 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明公开了一种纳米T型栅的制作方法,涉及半导体器件及集成电路制作工艺技术领域。包括如下步骤清洗基片并烘干,在基片上涂一次电子束光刻胶,烘干;涂二次电子束光刻胶,并进行电子束直写并显影,制作T型栅的上半部分;设置不同位置尺寸和剂量,对一次电子束光刻胶进行电子束直写;对一次电子束光刻胶进行显影,制作栅的下半部分;采用蒸发或溅射的方法沉积栅电极金属;剥离金属,去胶,完成T型栅制作。所述方法工艺简单,易行,提高了纳米T型栅的机械强度和器件成品率,降低了生产成本。
搜索关键词: 纳米 制作方法
【主权项】:
一种纳米T型栅的制作方法,其特征在于所述方法包括如下步骤:1)在衬底(1)的上表面涂覆第一电子束光刻胶,然后烘干,形成第一电子束光刻胶层(2);2)在第一电子束光刻胶层(2)的上表面涂覆第二电子束光刻胶,然后烘干,形成第二电子束光刻胶层(3);3)在第二电子束光刻胶层(3)的上表面涂覆第三电子束光刻胶,然后烘干,形成第三电子束光刻胶层(4);4)对第三电子束光刻胶层(4)和第二电子束光刻胶层(3)进行光刻处理,在第三电子束光刻胶层上形成T型栅(6)的栅帽图形;5)对第一电子束光刻胶层进行光刻处理,在第一电子束光刻胶层(2)上形成T型栅(6)的栅根图形;6)在步骤5)处理后的器件的上表面沉积栅电极金属(5);7)剥离第一电子束光刻胶层(2)、第二电子束光刻胶层(3)、第三电子束光刻胶层(4)以及第三电子束光刻胶层(4)上表面沉积的栅电极金属(5),在衬底(1)的上表形成T型栅(6);所述第一电子束光刻胶层(2)的制作材料为PMMA,厚度为150nm‑200nm,热板烘干时间为2分钟‑4分钟;所述第二电子束光刻胶层(3)的制作材料为PMGI,厚度为500nm‑600nm,热板烘干时间为2分钟‑4分钟;所述第三电子束光刻胶层(4)的制作材料为PMMA,厚度为300nm‑350nm,热板烘干时间为2分钟‑4分钟。
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