[发明专利]SOC芯片晶振电路的备份方法及装置有效

专利信息
申请号: 201510351304.7 申请日: 2015-06-24
公开(公告)号: CN104980123B 公开(公告)日: 2018-06-08
发明(设计)人: 廖裕民;江显舟;顾家其 申请(专利权)人: 福州瑞芯微电子股份有限公司
主分类号: H03H9/205 分类号: H03H9/205;H03H9/02
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 王美花
地址: 350000 福建省*** 国省代码: 福建;35
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摘要: 发明提供一种SOC芯片晶振电路的备份方法,在芯片裸片上设置第一晶振电路、第二晶振电路,在芯片裸片和芯片封装基板上设置测试电路;在芯片裸片生产出来后的裸片测试阶段,通过该测试电路分别对所述第一晶振电路、第二晶振电路进行晶振电路测试,测试结果将芯片裸片分为第一晶振电路和第二晶振电路均能工作、仅第二晶振电路能工作、第一晶振电路和第二晶振电路均不能工作三类裸片,然后做相应处理。本发明在新晶振电路可以正常工作时使用新晶振电路,在新晶振电路不能正常工作时又可以方便的通过封装修改直接使用成熟的晶振电路,这样就同时解决了既想要新电路的高性能,又可以避免设计新电路带来的风险的问题。
搜索关键词: 晶振电路 芯片裸片 测试电路 备份 裸片 电路 芯片封装基板 测试阶段 封装 测试 成熟 生产
【主权项】:
一种SOC芯片晶振电路的备份方法,其特征在于:在芯片裸片上设置第一晶振电路、第二晶振电路,在芯片裸片和芯片封装基板上设置测试电路;所述第一晶振电路、第二晶振电路分别连接该测试电路;在芯片裸片生产出来后的裸片测试阶段,通过该测试电路分别对所述第一晶振电路、第二晶振电路进行晶振电路测试,测试结果将芯片裸片分为第一晶振电路和第二晶振电路均能工作、仅第二晶振电路能工作、第一晶振电路和第二晶振电路均不能工作三类裸片,然后做相应处理;所述测试电路包括设置在芯片裸片上的MTCMOS开关、晶振选择控制器、晶体通路选择器、晶振通路选择器、PLL锁相环、选择晶振可连线压焊点和上拉电路,以及设置在芯片封装基板上的可选择基板接地单元;所述第一晶振电路、第二晶振电路分别连接MTCMOS开关、晶体通路选择器以及晶振通路选择器;所述可选择基板接地单元、选择晶振可连线压焊点、晶振选择控制器以及MTCMOS开关依次连接;所述上拉电路连接选择晶振可连线压焊点,所述晶振选择控制器还分别连接所述晶振通路选择器和晶体通路选择器,所述晶振通路选择器还连接PLL锁相环,所述晶振通路选择器还作为测试观测端,所述晶体通路选择器还作为连接外部震荡源的石英晶体输入端;其中,所述相应处理是:对测试分类的裸片进行封装,第一类裸片的所述选择晶振可连线压焊点不进行绑定封装而直接悬空,使用内部的上拉电路来选择第一晶振电路进行工作;第二类裸片由于第一晶振电路不能正常工作,需要将所述选择晶振可连线压焊点绑定到芯片封装基板的可选择基板接地单元,使选择信号为低来选择第二晶振电路进行工作;第三类裸片由于没有晶振电路可以正常工作,不进行封装而作为废片处理。
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