[发明专利]一种制作纳米线的方法有效
申请号: | 201510312421.2 | 申请日: | 2015-06-09 |
公开(公告)号: | CN105097449B | 公开(公告)日: | 2018-07-31 |
发明(设计)人: | 杨喜超;吴昊;赵静;张臣雄 | 申请(专利权)人: | 华为技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L21/335 |
代理公司: | 深圳市深佳知识产权代理事务所(普通合伙) 44285 | 代理人: | 王仲凯 |
地址: | 518129 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种制作纳米线的方法,包括:在衬底上表面沉积生长第一牺牲物,沿第一牺牲物的N个外表面沉积生长第一隔离物,以第一隔离物为掩模各向异性刻蚀衬底,移除第一隔离物,得到第一组半导体鳍条,使用填充物填充衬底被刻蚀的部分,在被填充后的衬底的上表面沉积生长第二牺牲物,第二牺牲物的Y个外表面分别与第一组半导体鳍条中各个半导体鳍条形成有预设交叉角度,沿第二牺牲物的Y个外表面沉积生长第二隔离物,以第二隔离物为掩模各向异性刻蚀被填充后的衬底,得到纳米线。这样,以隔离物为掩模对衬底进行刻蚀从而生成纳米线的方法,制作出具有高均匀性、低关键尺寸抖动以及高工艺稳定性的纳米线。 | ||
搜索关键词: | 一种 制作 纳米 方法 | ||
【主权项】:
1.一种制作纳米线的方法,其特征在于,包括:设置衬底;在所述衬底上表面沉积生长预设模板形状的第一牺牲物,所述第一牺牲物为实体且包括M个与所述衬底垂直的外表面,所述M大于1;在所述M个与所述衬底垂直的外表面中按照预定规则选择N个外表面用于为第一隔离物的生长提供模板,所述N大于1且小于等于M;沿第一牺牲物的所述N个外表面沉积生长预设厚度的第一隔离物,所述预设厚度的第一隔离物的下方仍有所述衬底;移除所述第一牺牲物;以所述预设厚度的第一隔离物为掩模各向异性刻蚀所述衬底;移除所述预设厚度的第一隔离物,得到第一组半导体鳍条;使用填充物填充所述衬底被刻蚀的部分,使得被填充后的衬底与未被刻蚀时的衬底形状一样,所述填充物与所述衬底能够被同种预定刻蚀材料刻蚀;在所述被填充后的衬底的上表面沉积生长预设模板形状的第二牺牲物,所述第二牺牲物为实体且包括X个与所述被填充后的衬底垂直的外表面,所述X大于1;在所述X个与所述被填充后的衬底垂直的外表面中按照预定规则选择Y个外表面用于为第二隔离物的生长提供模板,所述Y大于1且小于等于X;第二牺牲物的所述Y个外表面分别与所述第一组半导体鳍条中各个半导体鳍条形成有预设交叉角度;沿第二牺牲物的所述Y个外表面沉积生长预设厚度的第二隔离物,所述预设厚度的第二隔离物的下方仍有所述被填充后的衬底;移除所述第二牺牲物;以所述预设厚度的第二隔离物为掩模各向异性刻蚀所述被填充后的衬底;移除所述预设厚度的第二隔离物,得到第二组半导体鳍条;移除所述填充物,得到纳米线。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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