[发明专利]阵列基板、触控显示装置及其测试方法有效
| 申请号： | 201510233019.5 | 申请日： | 2015-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN104777637B | 公开（公告）日： | 2018-01-02 |
| 发明（设计）人： | 金慧俊 | 申请（专利权）人： | 上海中航光电子有限公司;天马微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1343;G02F1/1333;G06F3/041 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 高静,吴敏 |
| 地址： | 201108 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种阵列基板、触控显示装置及其测试方法，所述阵列基板包括基底；设置在所述基底同一侧的公共电极结构和测试导电结构，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘；所述测试导电结构与所述公共电极结构在垂直所述基底方向上的投影具有交叠区域，所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接。当需要所述公共电极的电位进行测试时，可以对所述交叠区域可进行激光烧熔，所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接，将探针扎到所述测试导电结构上，从而减小了测试公共电极电位的难度，并且不容易使探针接触到所述公共电极结构周围的其他器件，提高了测量结果的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 阵列 显示装置 及其 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种阵列基板，其特征在于，包括：基底；设置在所述基底同一侧的公共电极结构和测试导电结构，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘；所述测试导电结构与所述公共电极结构在垂直所述基底方向上的投影具有交叠区域，所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接；其中，所述公共电极结构包括公共电极以及与所述公共电极相连的公共电极引线，所述测试导电结构包括测试焊盘以及与所述测试焊盘相连的测试引线，所述测试引线和公共电极引线在垂直所述基底方向上的投影具有所述交叠区域。
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