[发明专利]阵列基板、触控显示装置及其测试方法

权利要求书

1.一种阵列基板，其特征在于，包括：

基底；

设置在所述基底同一侧的公共电极结构和测试导电结构，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘；

所述测试导电结构与所述公共电极结构在垂直所述基底方向上的投影具有交叠区域，所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接；

其中，所述公共电极结构包括公共电极以及与所述公共电极相连的公共电极引线，所述测试导电结构包括测试焊盘以及与所述测试焊盘相连的测试引线，所述测试引线和公共电极引线在垂直所述基底方向上的投影具有所述交叠区域。

2.根据权利要求1所述的阵列基板，其特征在于，所述测试焊盘用于在测试公共电极结构电位时放置测试探针。

3.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板还包括:

位于所述基底上的栅极；

覆盖于所述栅极上的第一绝缘层；

位于所述第一绝缘层远离所述基底一侧的源极和漏极；

覆盖于所述源极和漏极上的第二绝缘层，所述公共电极位于所述第二绝缘层远离所述基底一侧；

覆盖于所述公共电极上的第三绝缘层；

位于第三绝缘层远离所述基底一侧的像素电极；

位于所述第二绝缘层和第三绝缘层中的第一过孔，所述像素电极通过所述第一过孔与所述漏极电连接。

4.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述公共电极引线与所述像素电极位于同层，所述阵列基板还包括位于所述第三绝缘层中的第二过孔，所述公共电极通过所述第二过孔与所述公共电极引线电连接。

5.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述公共电极引线与所述源极、漏极位于同层。

6.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试引线与所述栅极位于同层，所述测试焊盘位于所述第三绝缘层远离所述基底一侧，所述阵列基板还包括位于所述第一至第三绝缘层中的第三过孔，所述测试焊盘通过所述第三过孔与所述测试引线电连接。

7.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试引线与所述源极、漏极位于同层，所述测试焊盘位于所述第三绝缘层远离所述基底一侧，所述阵列基板还包括位于所述第二和第三绝缘层中的第四过孔，所述测试焊盘通过所述第四过孔与所述测试引线电连接。

8.根据权利要求3所述的阵列基板，其特征在于，所述测试引线与所述像素电极或公共电极位于同层。

9.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试焊盘表面露出，所述测试焊盘的材料为金属或透明金属氧化物。

10.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试焊盘为矩形，所述测试焊盘的长度和宽度均在20微米以上。

11.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板用于触控显示装置中，所述公共电极结构包括多个公共电极和多条公共电极引线，每个所述公共电极分别与不同的公共电极引线电连接，所述公共电极用于在所述触控显示装置的显示阶段输入公共信号，在所述触控显示装置的触控阶段输入或输出触控信号。

12.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板包括显示区，所述公共电极位于所述显示区中，所述交叠区域位于所述显示区外围。

13.根据权利要求12所述的阵列基板，其特征在于，所述阵列基板上显示区的一侧设有触控显示芯片，所述交叠区域位于所述阵列基板上远离所述触控显示芯片的一侧。

14.根据权利要求2所述的阵列基板，其特征在于，所述测试导电结构包括多条测试引线，所述测试引线具有第一延展部，所述公共电极引线具有第二延展部，所述第一延展部和第二延展部相对设置，每条所述测试引线的第一延展部与一条所述公共电极引线的第二延展部在垂直基底方向上的投影具有一所述交叠区域，所述第一延展部位于测试引线的一端，所述第二延展部位于所述公共电极引线的一端。

15.根据权利要求14所述的阵列基板，其特征在于，所述第一延展部和第二延展部的形状相同，所述第一延展部和第二延展部的形状为矩形、多边形或圆形。