[发明专利]阵列基板、触控显示装置及其测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示技术领域，尤其涉及一种阵列基板、触控显示装置及其测试方法。

背景技术

触摸屏作为一种输入媒介，是目前最为简单、方便、自然的一种人机交互方式。在液晶显示器(liquid crystal display，LCD)或有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode,OLED)显示器上集成触控功能，已经成为越来越多平板显示器厂商的研发热点。

为了进一步减小触摸屏的体积，以减小设置有触摸屏的移动终端的尺寸，近年来显示领域发展了盒内触摸显示面板(in cell TP)，盒内触摸显示面板将触控电极集成在液晶显示面板之内，因此，采用盒内触摸显示技术的触摸屏可以比采用全贴合技术(One glass solution，OGS)尺寸更小。

在现有技术in cell TP中，将像素区中公共电极复用为触控电极，能够减小in cell TP的体积。由于膜层结构所限，复用为触控电极的公共电极在绝缘层下方，这就使解析过程中的探测公共电极电位变得相当困难。示波器探针或是平板显示器手动探测设备(FDP manual prober)的探针都不容易扎穿绝缘层，尤其是在像素电极位于公共电极上方的情况下，在扎探针时很容易使探针接触到像素电极，如果使用暴力扎穿，就容易使像素电极和公共电极相互短路，影响测量结果。

为此，提供一种阵列基板、触控显示装置及其测试方法，减小测试公共电极电位的难度，提高测量结果的精度成为本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明解决的问题是提供一种阵列基板、触控显示装置及其测试方法，减小测试公共电极电位的难度，提高测量结果的精度。

为解决上述问题，本发明提供一种阵列基板，包括：

基底；

设置在所述基底同一侧的公共电极结构和测试导电结构，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘；

所述测试导电结构与所述公共电极结构在垂直所述基底方向上的投影具有交叠区域，所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接。

与现有技术相比，本发明的技术方案具有至少以下优点之一：所述阵列基板可以应用于显示装置中，当需要对所述公共电极的电位进行测试时，可以对所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接，将探针扎到所述测试导电结构上，从而减小了测试公共电极电位的难度，并且不容易使探针接触到所述公共电极结构周围的其他器件，提高了测量结果的准确性；在显示装置正常工作时，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘，所述公共电极结构上的电位不会受到所述测试导电结构的影响。

本发明还提供一种触控显示装置，包括:

本发明提供的阵列基板；

与所述阵列基板相对设置的彩色滤光片；

位于阵列基板和彩色滤光片之间的液晶层。

当需要所述公共电极的电位进行测试时，可以对所述交叠区域可进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接，将探针扎到所述测试导电结构上，从而减小了测试公共电极电位的难度，并且不容易使探针接触到所述公共电极结构周围的其他器件，提高了测量结果的精度；在触控显示装置正常工作时，所述公共电极结构和测试导电结构之间相互绝缘，所述公共电极结构上的电位不容易受到所述测试导电结构的影响。

本发明还提供一种触控显示装置的测试方法，包括：提供触控显示装置，所述触控显示装置包括本发明提供的阵列基板；

对所述交叠区域进行激光烧熔，使所述测试导电结构和所述公共电极结构电连接；

对所述测试导电结构的电位进行测试，以得到所述公共电极结构的电位。

采用本发明触控显示装置的测试方法对所述公共电极的电位进行测试时，可以将探针扎到所述测试导电结构上，从而减小了测试公共电极电位的难度，并且不容易使探针接触到所述公共电极结构周围的其他器件，提高了测量结果的精度。

附图说明

图1是本发明一种阵列基板的示意图；

图2是图1所示阵列基板中交叠区域周边的放大图；

图3是图1所示阵列基板中部分区域的剖视图；

图4是图1所示阵列基板中交叠区域的分布图；

图5是本发明另一种阵列基板中部分区域周边的剖视图；

图6是本发明再一种阵列基板中部分区域周边的剖视图；

图7是本发明又一种阵列基板中交叠区域的分布图；

图8是本发明又一种阵列基板中交叠区域的分布图；