[发明专利]测量物体尺寸的设备、方法和装置有效
申请号: | 201510147720.5 | 申请日: | 2015-03-31 |
公开(公告)号: | CN106152947B | 公开(公告)日: | 2019-11-29 |
发明(设计)人: | 赵刚;邱鹏 | 申请(专利权)人: | 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 姜劲;金洁<国际申请>=<国际公布>=< |
地址: | 100080 北京市海淀区杏石口路6*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明提供一种测量物体尺寸的设备、方法和装置,有助于高效、准确地计算物体的尺寸。本发明的测量物体尺寸的设备包括深度传感器、传感器架、校正辅助装置、置物平台、以及计算机,其中:所述校正辅助装置用于辅助对深度传感器平面进行的校正,包括黑白棋盘纹理的纺织物或打印物,以及包括透明平板,所述纺织物或打印物铺在所述置物平台上,所述透明平板压在所述纺织物或打印物上;所述深度传感器置于所述传感器架上,并位于所述置物平台上方的空间中;所述计算机与所述深度传感器连接。 | ||
搜索关键词: | 测量 物体 尺寸 设备 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种测量物体尺寸的设备,其特征在于,包括深度传感器、传感器架、校正辅助装置、置物平台、以及计算机,其中:/n所述校正辅助装置用于辅助对深度传感器平面进行的校正,包括黑白棋盘纹理的纺织物或打印物,以及包括透明平板,所述纺织物或打印物铺在所述置物平台上,所述透明平板压在所述纺织物或打印物上;/n所述深度传感器置于所述传感器架上,并位于所述置物平台上方的空间中;所述深度传感器用于拍摄校正辅助装置的照片,以及测量校正辅助装置到深度传感器的距离;所述深度传感器还用于在将被测物体置于所述校正辅助装置上之后,检测被测物体的深度图;/n所述计算机与所述深度传感器连接,用于根据所述校正辅助装置上表面点的真实坐标和所述照片中校正辅助装置上表面点的空间坐标确定深度传感器与校正辅助装置所在平面的夹角,并根据所述夹角对所述校正辅助装置到深度传感器的距离以及所述深度图进行校正;还用于根据校正后的校正辅助装置到深度传感器的距离以及校正后的深度图确定被测物体的尺寸。/n
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