[发明专利]用于探测、检测和分析分子的具有外部光源的集成装置在审
申请号: | 201480073365.5 | 申请日: | 2014-11-17 |
公开(公告)号: | CN106029904A | 公开(公告)日: | 2016-10-12 |
发明(设计)人: | 乔纳森·M·罗思伯格;阿里·卡比里;杰森·W·斯克勒;布雷特·J·格亚凡思;杰瑞米·拉基;杰勒德·施密德;本杰明·西普里亚尼;杰克·朱厄尔;罗伦斯·威斯特;迈克尔·费里尼奥;保罗·E·格伦;安东尼·贝罗菲奥雷 | 申请(专利权)人: | 宽腾矽公司 |
主分类号: | C12Q1/68 | 分类号: | C12Q1/68;G01N21/64;G01N21/77 |
代理公司: | 上海和跃知识产权代理事务所(普通合伙) 31239 | 代理人: | 余文娟 |
地址: | 美国康*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本发明涉及用于分析单分子和进行核酸测序的器械和方法。一种集成装置包括具有样品阱的多个像素,所述样品阱被配置成接收当被激发时发射出发射辐射的样品;至少一个在特定方向中指引所述发射辐射的元件;以及光路径,所述发射辐射沿所述光路径从所述样品阱向传感器行进。所述器械还包括与所述集成装置通过接口连接的仪器。每个传感器可在各样品阱中检测源于样品的发射辐射。所述仪器包括用于在每个样品阱中激发所述样品的激发光源。 | ||
搜索关键词: | 用于 探测 检测 分析 分子 具有 外部 光源 集成 装置 | ||
【主权项】:
一种集成装置,其包括:像素区,其包括:多个像素,所述多个像素中的每个像素具有:在所述集成装置的表面上的样品阱,其中所述样品阱被配置成接收样品;至少一个组件,其被配置成基于响应于激发能量从所述样品阱中的所述样品发射出的发射能量而生成辐射图式;以及至少一个传感器,其被配置成检测所述辐射图式中的至少一部分的空间分布;以及至少一个波导,其被配置成将激发能量输送至所述多个像素中的至少一部分。
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