[发明专利]对准方法以及对准装置有效
申请号: | 201480053028.X | 申请日: | 2014-05-14 |
公开(公告)号: | CN105593396B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | 山根幸男;石井博;田中广树 | 申请(专利权)人: | 佳能特机株式会社 |
主分类号: | C23C14/04 | 分类号: | C23C14/04;G01B11/00;G03F9/00;H01L21/027 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 李辉,黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供一种能够进行高精度的对准的、实用性优异的对准方法。当进行基板(12)与掩模(11)的对准时,使用由低摄像倍率的第1摄像部(13)进行摄像而得到的摄像数据,定位高摄像倍率的第2摄像部(14),以该第2摄像部(14)的摄像范围为基准,按照第1对准工序和第2对准工序这两个阶段进行基板(12)和掩模(11)的位置校正,其中,所述第1对准工序是使用由第1摄像部(13)进行摄像而得到的摄像数据来进行的,所述第2对准工序是使用由第2摄像部(14)进行摄像而得到的摄像数据来进行的。 | ||
搜索关键词: | 对准 方法 以及 装置 | ||
【主权项】:
一种对准方法,其特征在于,包括:掩模保持工序,将掩模保持在掩模台上;第1摄像工序,利用第1摄像部对设在所述掩模上的位置检测用的第1标记进行摄像;第1移动工序,根据所述第1摄像工序中得到的摄像数据获得所述第1标记的位置信息,基于该第1标记的位置信息使摄像倍率高于所述第1摄像部的第2摄像部移动,以使设在所述掩模上的位置检测用的第2标记位于所述第2摄像部的摄像范围内;基板保持工序,将基板保持在基板架上;配置工序,将所述掩模与基板配置成隔着间隔重合;第2摄像工序,利用第1摄像部对设在所述掩模上的位置检测用的第1标记和设在所述基板上的位置检测用的第3标记同时进行摄像;第1对准工序,根据所述第2摄像工序中得到的摄像数据获得所述第1标记及所述第3标记的位置信息,基于该第1标记及第3标记的位置信息使所述基板与所述掩模相对移动;第3摄像工序,利用所述第1移动工序中移动后的所述第2摄像部,对所述第2标记和设在所述基板上的位置检测用的第4标记同时进行摄像;第2对准工序,根据所述第3摄像工序中得到的摄像数据获得所述第2标记及所述第4标记的位置信息,基于该第2标记及第4标记的位置信息使所述基板与所述掩模相对移动;以及紧贴工序,在所述第2对准工序之后,使所述基板与所述掩模紧贴,使用通过由摄像倍率低于所述第2摄像部的第1摄像部进行摄像的所述第1摄像工序得到的摄像数据,来通过所述第1移动工序对高摄像倍率的所述第2摄像部进行定位,以定位后的所述第2摄像部的摄像范围为基准,按照所述第1对准工序和所述第2对准工序这两个阶段进行所述基板和所述掩模的位置校正。
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