[发明专利]SiC单晶及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480052509.9 申请日: 2014-08-27
公开(公告)号: CN105593414B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 大黑宽典;加渡干尚;龟井一人;楠一彦 申请(专利权)人: 丰田自动车株式会社
主分类号: C30B29/36 分类号: C30B29/36;C30B19/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种具有大的生长厚度且不包含夹杂物的SiC单晶。所述SiC单晶是通过溶液法生长的SiC单晶,其中,SiC单晶的{0001}生长面中的{1‑100}面的合计长度M与SiC单晶的生长面的外周长度P满足M/P≤0.70的关系,并且SiC单晶的生长方向的长度为2mm以上。
搜索关键词: sic 及其 制造 方法
【主权项】:
1.SiC单晶的制造方法,其是在坩埚内使保持于晶种保持轴的SiC晶种基板与具有从内部向表面温度降低的温度梯度的Si‑C溶液接触以使SiC单晶生长的SiC单晶的制造方法,该制造方法包括:以所述晶种基板的{0001}面为基点使SiC单晶生长,使得其具有2mm以上的生长方向的长度,和使自<11‑20>方向的热损失低于自<1‑100>方向的热损失,所述晶种基板的直径S相对于所述坩埚内径C的比例即S/C满足0.50≤S/C<1.0的关系。
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