[发明专利]具有硅金属浮动栅极的分裂栅非易失性闪存单元及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201480046009.4 申请日: 2014-07-30
公开(公告)号: CN105453229B 公开(公告)日: 2018-01-26
发明(设计)人: J-W.刘;A.科托夫;Y.特卡彻夫;C-S.苏 申请(专利权)人: 硅存储技术公司
主分类号: H01L29/788 分类号: H01L29/788;H01L21/336;H01L27/11521;H01L21/28;H01L29/423
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 吕传奇,陈岚
地址: 美国加利*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种非易失性存储器单元,所述非易失性存储器单元包括第一导电类型的衬底,所述衬底具有间隔开的第二导电类型的第一区域和第二区域,在所述第一区域和所述第二区域之间形成沟道区。选择栅极与所述沟道区的第一部分绝缘并且设置在所述第一部分上面,所述第一部分与所述第一区域相邻。浮动栅极与所述沟道区的第二部分绝缘并且设置在所述第二部分上面,所述第二部分与所述第二区域相邻。金属材料与所浮动栅极接触地形成。控制栅极与所述浮动栅极绝缘并且设置在其上面。擦除栅极包括第一部分和第二部分,所述第一部分与所述第二区域绝缘并且设置在其上面,而且与所述浮动栅极绝缘并且与其横向相邻设置;所述第二部分与所述控制栅极绝缘并且与其横向相邻,而且部分地在所述浮动栅极上面延伸并且与其纵向重叠。
搜索关键词: 具有 金属 浮动 栅极 分裂 栅非易失性 闪存 单元 及其 制造 方法
【主权项】:
一种非易失性存储器单元,所述非易失性存储器单元包括:第一导电类型的衬底,所述衬底具有第二导电类型的第一区域、与所述第一区域间隔开的所述第二导电类型的第二区域,在所述第一区域和所述第二区域之间形成沟道区;选择栅极,所述选择栅极与所述沟道区的第一部分绝缘并且设置在所述第一部分上面,所述第一部分与所述第一区域相邻;浮动栅极,所述浮动栅极与所述沟道区的第二部分绝缘并且设置在所述第二部分上面,所述第二部分与所述第二区域相邻,其中所述浮动栅极由多晶硅形成并且具有平坦的顶部表面;与所述浮动栅极接触地形成的金属材料;控制栅极,所述控制栅极与所述浮动栅极绝缘并且设置在其上面;擦除栅极,所述擦除栅极包括第一部分和第二部分,其中:所述第一部分与所述第二区域绝缘并且设置在所述第二区域上面,而且与所述浮动栅极绝缘并且与所述浮动栅极横向相邻设置;并且所述第二部分与所述控制栅极绝缘并且与所述控制栅极横向相邻,而且部分地在所述浮动栅极平坦的顶部表面上面延伸并且与所述平坦的顶部表面纵向重叠;其中所述金属材料作为层布置在所述浮动栅极的所述平坦的顶部表面上,以及其中该金属材料层在所述浮动栅极的所述平坦的顶部表面的仅一部分上面延伸,其中所述金属材料层不在所述平坦的顶部表面的其上面延伸有所述擦除栅极的第二部分的任何部分上面延伸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅存储技术公司,未经硅存储技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201480046009.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top