[发明专利]使用多条处理路径进行器件测试的方法和装置有效

专利信息
申请号: 201480014023.6 申请日: 2014-01-10
公开(公告)号: CN105190334B 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 科宾·L·钱皮恩;约翰·R·潘恩;马克·B·多纳休 申请(专利权)人: 泰拉丁公司
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 戚传江;金洁
地址: 美国马*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 根据一些方面,本发明提供了一种操作自动测试系统的方法,所述自动测试系统包括多条路径并且用测试模式编程。一种这样的方法包括用具有多条路径的电路执行所述测试模式中的向量,所述执行包括:当处理时,在所述多条路径中的第一条路径中,向量的所述操作部分指定操作,在所述测试模式中所述向量的执行流程中,所述操作能够生成分支到所述测试模式中的非顺序位置,从而从所述非顺序位置发起对所述多条路径中的第二条路径中所述测试模式的处理。一些方面包括用于执行指令的系统,所述系统包括多条构成控制电路的路径,用于从所述多条路径中的可用路径内的存储器的后续位置发起对操作部分的处理。
搜索关键词: 测试模式 多条路径 向量 自动测试系统 顺序位置 方法和装置 存储器 处理路径 后续位置 可用路径 控制电路 器件测试 编程 电路 指令
【主权项】:
1.一种操作使用包含多个向量的测试模式编程的自动测试系统的方法,所述多个向量各自与所述测试模式内的位置相关,并且所述多个向量的至少一部分中的每一个向量包括操作部分和数据部分,所述操作部分限定操作以确定在执行所述测试模式期间后续向量的位置,并且所述数据部分至少部分地表征在执行所述向量时即将由所述测试系统执行的操作以便在受试器件的多个测试点处生成或测量测试信号,所述方法包括:使用包括多条路径的电路执行所述测试模式中的向量,所述多条路径中的每一条被配置成处理向量的操作部分,并且使用多种秩流水线排列所述多条路径中的每一条路径,所述执行包括:当在所述多条路径中的第一条路径中,处理指定能够在所述测试模式中所述向量的执行流程中生成到所述测试模式中的非顺序位置的分支的操作的向量的操作部分时,从所述非顺序位置发起对所述多条路径中的第二条路径中所述测试模式的处理;以及从所述多条路径中的一条路径中的操作部分选择一个值,所述选择包括选择路径以及在从其访问所述值的所述选择的路径中选择秩。
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