[发明专利]使用多条处理路径进行器件测试的方法和装置有效
申请号: | 201480014023.6 | 申请日: | 2014-01-10 |
公开(公告)号: | CN105190334B | 公开(公告)日: | 2018-07-10 |
发明(设计)人: | 科宾·L·钱皮恩;约翰·R·潘恩;马克·B·多纳休 | 申请(专利权)人: | 泰拉丁公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 戚传江;金洁 |
地址: | 美国马*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测试模式 多条路径 向量 自动测试系统 顺序位置 方法和装置 存储器 处理路径 后续位置 可用路径 控制电路 器件测试 编程 电路 指令 | ||
1.一种操作使用包含多个向量的测试模式编程的自动测试系统的方法,所述多个向量各自与所述测试模式内的位置相关,并且所述多个向量的至少一部分中的每一个向量包括操作部分和数据部分,所述操作部分限定操作以确定在执行所述测试模式期间后续向量的位置,并且所述数据部分至少部分地表征在执行所述向量时即将由所述测试系统执行的操作以便在受试器件的多个测试点处生成或测量测试信号,所述方法包括:
使用包括多条路径的电路执行所述测试模式中的向量,所述多条路径中的每一条被配置成处理向量的操作部分,并且使用多种秩流水线排列所述多条路径中的每一条路径,所述执行包括:
当在所述多条路径中的第一条路径中,处理指定能够在所述测试模式中所述向量的执行流程中生成到所述测试模式中的非顺序位置的分支的操作的向量的操作部分时,从所述非顺序位置发起对所述多条路径中的第二条路径中所述测试模式的处理;以及
从所述多条路径中的一条路径中的操作部分选择一个值,所述选择包括选择路径以及在从其访问所述值的所述选择的路径中选择秩。
2.根据权利要求1所述的方法,其中针对多个循环中的每个循环,执行还包括:
访问与具有所述选择值的位置相关的向量的数据部分;以及
使用所述访问的数据部分至少部分地控制受试器件的测试信号操作。
3.根据权利要求1所述的方法,其中执行还包括:
在发起对所述多条路径中的第二条路径中的所述测试模式的处理时,发起对所述多条路径中的第三条路径中的所述测试模式的处理。
4.根据权利要求1所述的方法,其中:
执行所述测试模式中的向量包括执行具有相同循环分支的多个循环中的向量。
5.根据权利要求1所述的方法,还包括:
基于确定所述执行流程没有分支到所述非顺序位置,修剪所述第二条路径。
6.根据权利要求5所述的方法,其中:
修剪所述第二条路径包括存储所述第二条路径可供使用的指示。
7.根据权利要求1所述的方法,其中:
处理指定能够在所述测试模式中所述向量的执行流程中生成到所述测试模式中的非顺序位置的分支的操作的向量的操作部分的步骤包括动态地计算非顺序位置。
8.根据权利要求1所述的方法,其中:
处理指定能够在所述测试模式中所述向量的执行流程中生成到所述测试模式中的非顺序位置的分支的操作的向量的操作部分的步骤包括从存储器读取非顺序位置。
9.根据权利要求8所述的方法,其中所述存储器是查找表。
10.根据权利要求8所述的方法,还包括:
在执行所述测试模式中的向量之前,针对所述多个向量的至少一部分中的每个向量,计算至少一个非顺序位置,所述非顺序位置是执行所述向量时所述流程中分支的可能终点;以及
存储所述计算出的至少一个非顺序位置的指示。
11.根据权利要求1所述的方法,其中所述电路包括模式发生器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于泰拉丁公司,未经泰拉丁公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201480014023.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。