[实用新型]新型零伏响应雪崩光电探测器芯片有效

专利信息
申请号: 201420452401.6 申请日: 2014-08-12
公开(公告)号: CN204067379U 公开(公告)日: 2014-12-31
发明(设计)人: 王建 申请(专利权)人: 深圳市芯思杰联邦国际科技发展有限公司
主分类号: H01L31/0352 分类号: H01L31/0352;H01L31/107
代理公司: 深圳市合道英联专利事务所(普通合伙) 44309 代理人: 廉红果
地址: 518000 广东省深圳市前海深港合作区前湾一路鲤鱼门街一号前*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型公开一种新型零伏响应雪崩光电探测器芯片,包括:衬底、缓冲层、吸收层、过渡层、场控层、顶层、接触层、N电极、Zn扩散区、钝化膜、增透膜及P电极,所述Zn扩散区通过Zn扩散工艺进行二次扩散而形成,所述Zn扩散区包括位于中部的倍增区以及位于外围的Zn扩散环,所述Zn扩散环的扩散深度大于所述倍增区的扩散深度。本实用新型中Zn扩散区的倍增区与Zn扩散环采用两次光刻窗口的方式及通过两次常规Zn扩散工艺所形成,制作简单快捷,可以批量生产;而且制得的雪崩光电探测器芯片无需要求偏压大于开通电压,即在零伏偏压下也有光响应电流,有利于耦合效率;还从根本上抑制了P区边缘击穿效应,有利于减小芯片尺寸。
搜索关键词: 新型 响应 雪崩 光电 探测器 芯片
【主权项】:
一种新型零伏响应雪崩光电探测器芯片,其特征在于,包括:衬底、形成于所述衬底上的缓冲层、形成于所述缓冲层上的吸收层、形成于所述吸收层上的过渡层、形成于所述过渡层上的场控层、形成于所述场控层上的顶层、形成于所述顶层上的接触层、形成于所述衬底底部的N电极、形成于所述接触层、顶层与场控层中的Zn扩散区、形成于所述接触层上的钝化膜、形成于所述Zn扩散区上的增透膜、以及形成于所述Zn扩散区、钝化膜与增透膜上的P电极,所述Zn扩散区通过Zn扩散工艺进行二次扩散而形成,所述Zn扩散区包括位于中部的倍增区以及位于外围的Zn扩散环,所述Zn扩散环的扩散深度大于所述倍增区的扩散深度。
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