[实用新型]一种逆反射测量装置有效

专利信息
申请号: 201420234977.5 申请日: 2014-05-08
公开(公告)号: CN203908936U 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 韩越 申请(专利权)人: 韩越
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 鞠永善
地址: 257500 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 实用新型公开一种逆反射测量装置,该逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器,光源和光探测器均设置在光学暗箱内,光学暗箱的表面设置有开口,试样放置在开口处,通过试样遮挡开口,光探测器用于对试样反射的光进行检测,光源到试样的连线与试样到光探测器的连线形成的夹角为0.2°。本实用新型通过将光探测器和光源放入光学暗箱中,并将逆反射材料放在光学暗箱的开口处,使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线,并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系,使得由此得到的逆反射材料的检测数据较为准确,使得能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。
搜索关键词: 一种 逆反 测量 装置
【主权项】:
一种逆反射测量装置,其特征在于,所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器,所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内,所述光学暗箱的表面设置有开口,逆反射材料制成的试样放置在所述开口处,通过所述试样遮挡所述开口,所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测,所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。
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