[实用新型]一种逆反射测量装置有效

专利信息
申请号: 201420234977.5 申请日: 2014-05-08
公开(公告)号: CN203908936U 公开(公告)日: 2014-10-29
发明(设计)人: 韩越 申请(专利权)人: 韩越
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17
代理公司: 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 代理人: 鞠永善
地址: 257500 山*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 逆反 测量 装置
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及公路交通安全技术领域,特别涉及一种逆反射测量装置。

背景技术

逆反射是反射光线沿靠近入射光线的反方向,向光源射回的一种光学现象。逆反射材料是基于上述原理进行制造的,其广泛应用于公路交通领域。利用车辆自身灯光的照明效果,通过逆反射材料的反射作用能够达到传递指示、警告等信息的效果。常见产品包括逆反射标志、突起路标和标线等,逆反射材料对于保障公路运输安全,提高通行效率有着重要的意义,因此,为保证逆反射材料的逆反射效果,需要在使用逆反射材料前对其进行测试,通常逆反射材料的逆反射效果由其亮度因数以及光源、逆反射材料、观察者三者之间的几何条件来决定。

现有技术中的检测逆反射材料几何条件的设备只包括光源和光探测器,测试时,通过光源对逆反射材料进行照射,通过光探测器检测逆反射材料反射的光,得到检测数据后,再由工作人员人工对检测数据进行整理和计算,最终得到逆反射材料的几何条件,用于测试的逆反射材料一般制成几何形状的试样。

在实现本实用新型的过程中,发明人发现现有技术至少存在以下问题:

现有技术中的检测装置只通过光源和光探测器对逆反射材料进行检测,检测时极容易受到外界杂光影响,造成无法准确获取该逆反射材料的检测数据,从而无法对逆反射材料在实际中的应用提供可靠的理论依据。

实用新型内容

为了解决现有技术容易受到外界杂光影响的问题,本实用新型实施例提供了一种逆反射测量装置。所述技术方案如下:

提供一种逆反射测量装置,所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器,所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内,所述光学暗箱的表面设置有开口,逆反射材料制成的试样放置在所述开口处,通过所述试样遮挡所述开口,所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测,所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。

进一步地,所述逆反射测量装置还包括测量仪,所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧,且所述测量仪与所述光探测器电连接。

进一步地,所述逆反射测量装置还包括信号放大器,所述信号放大器设置在所述光学暗箱外侧,所述光探测器、所述信号放大器和所述测量仪顺次连接。

进一步地,所述逆反射测量装置还包括显示器,所述显示器设置在所述光学暗箱外侧,所述显示器与所述测量仪连接。

作为优选,所述显示器为数码管或液晶显示屏。

进一步地,所述逆反射测量装置还包括机箱,所述光学暗箱、所述信号放大器、所述测量仪和所述显示器均放置在所述机箱内,且所述机箱上设置有窗口,所述显示器对应设置在所述窗口处。

本实用新型实施例提供的技术方案带来的有益效果是:

本实用新型通过将光探测器和光源放入光学暗箱中,并将逆反射材料的试样对光学暗箱的开口进行遮挡,使得光探测器在光学暗箱内只能检测到逆反射材料对光源反射的光线,从而不受外界杂光影响,使得逆反射材料的检测数据较为准确;并且通过固定光源、逆反射材料和光探测器三者之间的位置关系,使得在合理利用光学暗箱空间的同时,测得的数据较精确,从而能够为实际中制作逆反射产品提供可靠的理论依据和数据支持。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型实施例提供的逆反射测量装置的结构示意图。

其中:              1光学暗箱,

                    2光源,

                    3光探测器,

                    4测量仪,

                    5信号放大器,

                    6显示器,

                    7机箱,

                    8试样。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本实用新型实施方式作进一步地详细描述。

实施例一

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