[实用新型]一种逆反射测量装置

权利要求书

1.一种逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置包括光学暗箱、光源和光探测器，所述光源和所述光探测器均设置在所述光学暗箱内，所述光学暗箱的表面设置有开口，逆反射材料制成的试样放置在所述开口处，通过所述试样遮挡所述开口，所述光探测器用于对所述试样反射的光进行检测，所述光源到所述试样的连线与所述试样到所述光探测器的连线形成的夹角为0.2°。

2.根据权利要求1所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括测量仪，所述测量仪设置在所述光学暗箱外侧，且所述测量仪与所述光探测器电连接。

3.根据权利要求2所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括信号放大器，所述信号放大器设置在所述光学暗箱外侧，且所述光探测器、所述信号放大器和所述测量仪顺次连接。

4.根据权利要求3所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括显示器，所述显示器设置在所述光学暗箱外侧，所述显示器与所述测量仪连接。

5.根据权利要求4所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述显示器为数码管或液晶显示屏。

6.根据权利要求4所述的逆反射测量装置，其特征在于，所述逆反射测量装置还包括机箱，所述光学暗箱、所述信号放大器、所述测量仪和所述显示器均放置在所述机箱内，且所述机箱上设置有窗口，所述显示器对应设置在所述窗口处。